- 2025-01-21 09:32:52臺式掃描透射
- 臺式掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種高分辨率的電子顯微鏡技術，它結合了掃描電子顯微鏡（SEM）的成像原理與透射電子顯微鏡（TEM）的樣品穿透能力。臺式STEM通常設計緊湊、操作簡便，適用于材料科學、納米技術等領域，可對樣品進行高分辨成像、元素分析及晶體結構研究，是研究微小結構與組成的重要工具。
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臺式掃描透射問答
- 2023-06-08 16:10:17【飛納三點半】第 48 期直播通知：臺式掃描電鏡配備 STEM 掃描透射模式，實測效果如何？
- PHENOM第 48 期飛納三點半你聽說了嗎？飛納電鏡出了個新產品，配了掃透模式，也就是 STEM掃描電鏡上配 STEM，這都是老生常談了，有什么稀奇的？ 這是臺式掃描電鏡首 創，分辨率能達到 1nm，幾分鐘就測一個樣性能能行嗎？像我們做植物研究的，拍的圖能用嗎？ 據說效果很不錯！尤其是一些生物組織切片，還有一些納米材料，關鍵是效率很高，我現在約 TEM 測試還在排隊呢。是嗎？那實際測試看看效果咯 聽說他們下期【飛納三點半】要直播這款新產品呢，會實時測試幾個樣品，我們到時候看看就知道咯哦？是嗎？那到時候圍觀一下1、直播通知PHENOM · 飛納三點半掃描電鏡配備 STEM 探測器結合了掃描電鏡和透射電鏡的功能特點分辨率優于掃描電鏡加速電壓低于透射電鏡同時具有明場（BF）、暗場（DF）以及高角度環形暗場像（HAADF）對于納米材料以及生物樣品的觀測非常友好本期【飛納三點半】飛納電鏡視頻號直播間 15:30上海體驗中心的應用工程師將為您實時測試水稻葉片樣品、納米材料以及生物組織樣品并為您介紹此類樣品的制樣方法飛納場發射 Pharos 配備 STEM實際測試效果到底如何直播間來見分曉2、直播福利直播將有 3 波不定期福利，參與直播間互動，有機會獲得精美獎品一份。注：參加活動必須關注飛納電鏡視頻號，具體活動方式將在直播間公布，請持續關注；本次活動最 終解釋權歸飛納電鏡所有。每周三的三點半飛納電鏡視頻號為您準時直播最 新最有趣的實時測試也可以為您解答掃描電鏡的相關疑問讓科學走進生活認識微觀世界變得如此簡單如果您有希望直播的主題可以添加我們的【直播群助手】告訴我們本周三的下午三點半視頻號直播間我們不見不散
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- 2025-01-06 18:15:13臺式x射線熒光光譜儀有哪些特點？
- 臺式X射線熒光光譜儀特點 在現代分析實驗中，臺式X射線熒光光譜儀（簡稱XRF）因其無損、快速且高效的特點，成為許多領域中不可或缺的分析工具。該設備利用X射線激發樣品發射熒光，以此分析樣品的元素組成及其含量。隨著技術的不斷發展，臺式X射線熒光光譜儀的性能得到了顯著提升，不僅在材料科學、環境監測、冶金工程等領域中有著廣泛應用，也在許多工業檢測和研究過程中發揮著重要作用。本文將深入探討臺式X射線熒光光譜儀的特點，幫助讀者更好地理解其在實際應用中的優勢與發展潛力。 1. 無損檢測與高精度分析 臺式X射線熒光光譜儀大的優勢之一就是無損檢測特性。與傳統的化學分析方法不同，X射線熒光光譜儀能夠對樣品進行分析而不需要破壞樣品本身，這對于貴重材料和無法再生的樣品來說尤其重要。無論是金屬、礦石還是粉末，樣品都可以在原狀態下得到高精度的元素分析。這種無損的特性使得XRF在多種高價值應用場景中具備了無可替代的優勢。 2. 操作簡便與快速分析 臺式X射線熒光光譜儀通常設計為緊湊型，操作界面友好，用戶即使沒有專業背景，也可以快速上手。這種便捷的操作性使得該設備在日常的質量控制、現場檢測等環節中發揮著至關重要的作用。與傳統的分析方法相比，XRF的分析時間較短，通常只需幾分鐘即可得出分析結果，這大大提高了工作效率。 3. 多元素同步分析 臺式X射線熒光光譜儀具有較強的多元素同步分析能力。通過X射線激發樣品發射的熒光信號，可以同時檢測樣品中多個元素的含量。無論是微量元素還是大宗元素，XRF都能在較寬的元素周期表范圍內進行高精度分析。這一特點使得該設備非常適合用于復雜樣品的元素成分分析，尤其在礦產資源勘探、廢棄物回收等行業中具有廣泛的應用前景。 4. 高靈敏度與低檢測限 隨著技術的不斷進步，臺式X射線熒光光譜儀的靈敏度和低檢測限得到了極大的提升。現代XRF儀器能夠檢測到極低濃度的元素，甚至可以實現ppb級（十億分之一）的檢測精度。這一特性使得臺式X射線熒光光譜儀在環境監測、食品安全等領域中的應用愈加廣泛，能夠精確分析水體、空氣、土壤等樣品中的痕量污染物。 5. 強大的數據處理與分析功能 如今的臺式X射線熒光光譜儀不僅在硬件性能上有了長足進步，其配套的軟件系統也得到了極大的優化。大多數設備都配有先進的數據分析和報告生成系統，能夠自動處理分析數據并生成詳細的報告。這些軟件支持對數據進行深入分析，如統計學分析、誤差分析等，幫助用戶做出更加準確的決策。這種高效的數據處理能力為各類工業企業提供了可靠的分析支持。 6. 良好的適應性與便捷性 臺式X射線熒光光譜儀不僅適用于實驗室環境，也能在現場環境中使用。例如，在冶金生產、礦產開采等行業，XRF能夠提供即時的分析結果，幫助工作人員在生產過程中做出實時調整。臺式X射線熒光光譜儀體積小、重量輕，便于搬運和現場使用，極大提高了其應用的靈活性。 結論 臺式X射線熒光光譜儀憑借其無損檢測、高精度分析、多元素同步檢測等特點，已經成為許多行業不可或缺的重要工具。其便捷性、高靈敏度以及優秀的數據處理能力，使其在質量控制、環境監測、材料科學等領域擁有廣泛的應用前景。隨著技術的不斷創新，臺式X射線熒光光譜儀將繼續為各行各業提供更加、高效的分析服務，助力行業發展與進步。
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- 2025-01-02 12:15:11聲學掃描顯微鏡探頭怎么用
- 聲學掃描顯微鏡探頭怎么用 聲學掃描顯微鏡（AFM）作為一項先進的成像技術，廣泛應用于材料科學、生物醫學、半導體等領域。而其中，探頭的使用是實現精細成像的關鍵步驟之一。本文將詳細介紹聲學掃描顯微鏡探頭的使用方法，幫助科研人員更好地理解如何通過合適的操作，優化顯微鏡的性能，獲得高質量的樣品圖像與數據。 1. 聲學掃描顯微鏡探頭的基本構造 聲學掃描顯微鏡的探頭通常由一個極其敏感的微小探針、彈性支架和一個電子系統組成。其主要作用是利用超聲波或其他聲學信號與樣品表面相互作用，從而捕捉物質表面的微小變化。探頭的極為細小，可以觸及單個分子級別的細節，因此精確的操作至關重要。 2. 如何正確使用聲學掃描顯微鏡探頭 2.1 設置探頭 在使用聲學掃描顯微鏡之前，首先需要正確安裝探頭。根據不同的顯微鏡型號，探頭的安裝方式有所不同，通常需要根據廠商提供的操作手冊進行安裝。安裝時要確保探頭方向與樣品表面平行，并且探頭與樣品之間的距離要適中。探頭與樣品的接觸力通常較小，以避免損傷探針或樣品。 2.2 調整掃描參數 在安裝好探頭之后，需要根據樣品的特點調整合適的掃描參數。包括掃描速度、分辨率、探針的振幅等。掃描速度過快可能導致圖像模糊，過慢則可能增加數據采集時間，影響實驗效率。根據樣品的硬度和表面狀態，適當調整掃描的探頭力度，以保證得到高精度的成像結果。 2.3 進行樣品掃描 當探頭正確安裝并且掃描參數設置好之后，便可以開始對樣品進行掃描。在此過程中，操作人員需要保持穩定的工作環境，避免外界震動或溫度波動影響探頭的精度。探頭通過其振動與樣品的相互作用，將表面信息轉化為電信號并反饋到顯微鏡系統中，進而生成高分辨率的圖像。 2.4 數據分析與處理 掃描完成后，所獲得的數據可以通過專用軟件進行處理和分析。根據圖像的需要，可能需要對數據進行去噪、增強對比度等后處理操作，以提高圖像質量并進行進一步的科學分析。此時，操作人員要特別注意軟件中各類參數的設置，確保分析結果的準確性。 3. 聲學掃描顯微鏡探頭的常見問題與解決方法 在使用過程中，聲學掃描顯微鏡探頭可能會遇到一些問題，比如探頭損傷、圖像噪點過多等。常見的解決方法包括： 探頭損傷：探頭尖端容易受損，尤其是在操作過程中與樣品表面發生碰撞時。避免過度施加壓力或選擇硬度較高的樣品進行掃描，可以有效延長探頭的使用壽命。 圖像噪點問題：噪點過多可能是由于探頭不穩定或掃描參數設置不當導致的。可以通過調整掃描速度或使用更高質量的探頭來改善圖像質量。 4. 結語 聲學掃描顯微鏡探頭的正確使用對實驗結果至關重要。只有在安裝、參數調整和掃描操作中細心把控，才能確保獲得高分辨率的成像數據，進而推動科研工作的發展。掌握這些基本操作方法，將有助于在材料科學、生物醫學等多個領域實現精確的微觀探測，為科研創新提供有力支持。
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- 2025-03-20 13:30:143D掃描儀掃描后怎么建模
- 3D掃描儀掃描后怎么建模 隨著3D掃描技術的快速發展，3D掃描儀已被廣泛應用于各行各業，如工業制造、建筑設計、文化遺產保護等。掃描后如何將獲得的點云數據轉換為高質量的3D模型，是許多用戶面臨的挑戰。本文將深入探討在使用3D掃描儀掃描后的數據處理與建模流程，幫助用戶理解如何通過專業的軟件工具，將掃描結果精確轉換為可應用的3D模型。 1. 3D掃描儀掃描后的數據獲取 在使用3D掃描儀進行物體掃描時，設備通過激光或其他傳感器獲取物體表面的點云數據。這些數據由成千上萬的點組成，代表著物體表面各個位置的空間坐標。掃描儀的精度和數據采集速度將直接影響到點云數據的質量，因而選擇合適的掃描設備至關重要。 2. 點云數據處理 掃描后的點云數據并不是一個完整的3D模型，而只是包含表面幾何信息的原始數據。這些點云數據通常會包含噪聲、缺失區域等問題，因此需要進行預處理。常見的預處理步驟包括去噪、濾波、點云簡化和對齊。去噪是通過去除掃描中的不必要點來提高模型精度，點云簡化則是通過減少數據點的數量來提高后續處理的效率。 3. 點云轉換為網格模型 處理過的點云數據需要通過三角網格化過程轉化為3D網格模型。這個過程將點云中的每一個點與相鄰點連接，形成三角形面片，構成完整的3D表面。常用的網格化算法有Delaunay三角化和Poisson重建等。這一階段的關鍵是確保網格的拓撲結構合理，并盡可能保留細節，同時避免過度簡化導致模型失真。 4. 模型優化與修復 完成網格化后，生成的3D模型可能會出現一些瑕疵，如非流形面、裂縫或多余的面片等問題。因此，需要對模型進行優化與修復。優化的目的是提高模型的可用性和性能，尤其是在3D打印或虛擬現實等應用中，優化后的模型能夠更好地兼容各種軟件和硬件。修復操作可以通過專業建模軟件進行，修復裂縫、填補缺失的部分、修整表面等，確保終模型的質量達到預期標準。 5. 模型導出與應用 經過優化的3D模型可以導出為標準的3D文件格式，如STL、OBJ、PLY等，便于后續的3D打印、虛擬現實展示或其他應用。根據具體需求，模型還可以進一步細化或添加紋理、材質等元素，以適應不同的工作流程。 專業結語 在3D掃描后建模的過程中，從數據采集到模型優化每一步都需要精確的技術支持和專業的工具。通過對掃描數據的處理與模型的細致修復，能夠確保終模型在精度、穩定性以及適用性上的優良表現。因此，掌握這一完整流程對3D掃描技術的高效應用至關重要。
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- 2023-04-26 16:38:54掃描電子顯微鏡的基本原理（一）
- 自1965年第 一臺商品掃描電鏡問世以來，經過50多年的不斷改進，掃描電鏡的分辨率已經大大提高，而且大多數掃描電鏡都能與X射線能譜儀等附件或探測器組合，成為一種多功能的電子顯微儀器。在材料領域中，掃描電鏡發揮著極其重要的作用，可廣泛應用于各種材料的形態結構、界面狀況、損傷機制及材料性能預測等方面的研究，如圖1所示的納克微束FE-1050系列場發射掃描電鏡。圖1 納克微束FE-1050系列場發射掃描電鏡場發射掃描電鏡組成結構可分為鏡體和電源電路系統兩部分，鏡體部分由電子光學系統、信號收集和顯示系統以及真空系統組成，電源電路系統為單一結構組成。1.1 電子光學系統由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件組成。其作用是用來獲得掃描電子束，作為信號的激發源。為了獲得較高的信號強度和圖像分辨率，掃描電子束應具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。1.2 信號收集檢測樣品在入射電子作用下產生的物理信號，然后經視頻放大作為顯像系統的調制信號。1.3 真空系統真空系統的作用是為保證電子光學系統正常工作，防止樣品污染，一般情況下要求保持10-4~10-5Torr的真空度。1.4 電源電路系統電源系統由穩壓，穩流及相應的安全保護電路所組成，其作用是提供掃描電鏡各部分所需的電源。圖3為掃描電鏡工作原理示意圖，具體如下：由電子槍發出的電子束在加速電壓（通常200V～30kV）的作用下，經過兩三個電磁透鏡組成的電子光學系統，電子束被聚成納米尺度的束斑聚焦到試樣表面。與顯示器掃描同步的電子光學鏡筒中的掃描線圈控制電子束，在試樣表面的微小區域內進行逐點逐行掃描。由于高能電子束與試樣相互作用，從試樣中發射出各種信號（如二次電子、背散射電子、X射線、俄歇電子、陰極熒光、吸收電子等）。圖3 掃描電鏡的工作原理示意圖這些信號被相應的探測器接收，經過放大器、調制解調器處理后，在顯示器相應位置顯示不同的亮度，形成符合人類觀察習慣的二維形貌圖像或者其他可以理解的反差機制圖像。由于圖像顯示器的像素尺寸遠大于電子束斑尺寸，且顯示器的像素尺寸小于等于人類肉眼通常的分辨率，顯示器上的圖像相當于把試樣上相應的微小區域進行了放大，而顯示圖像有效放大倍數的限度取決于掃描電鏡分辨率的水平。早期輸出模擬圖像主要采用高分辨照相管，用單反相機直接逐點記錄在膠片上，然后沖洗相片。隨著電子技術和計算機技術的發展，如今掃描電鏡的成像實現了數字化圖像，模擬圖像電鏡已經被數字電鏡取代。掃描電鏡是科技領域應用最多的微觀組織和表面形貌觀察設備，了解掃描電鏡的工作原理及其應用方法，有助于在科學研究中利用好掃描電鏡這個工具，對樣品進行全面細致的研究。轉載文章均出于非盈利性的教育和科研目的，如稿件涉及版權等問題，請立即聯系我們，我們會予以更改或刪除相關文章，保證您的權益。
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