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2025-01-21 09:32:41掃描透射電鏡

掃描透射電鏡（STEM）是一種結合掃描電鏡與透射電鏡特性的電子顯微鏡，它利用聚焦電子束在樣品上逐點掃描，通過探測器收集透射電子信號成像。STEM具有高分辨率，能直觀顯示樣品內部的結構信息，如原子列、缺陷等。此外，結合能量散射譜（EDS）等分析手段，STEM還可實現元素分布和化學成分的分析。因其獨特優勢，STEM在材料科學、納米技術等領域有廣泛應用。

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