免费观看av的网址,国产精品自拍网站,亚洲精品专区一区8v

2025-01-21 09:31:20力學(xué)參數(shù)精細(xì)測量技術(shù): 力學(xué)參數(shù)精細(xì)測量技術(shù)是一種高精度、高靈敏度的測量手段，用于獲取材料或結(jié)構(gòu)的力學(xué)特性參數(shù)。該技術(shù)通過先進(jìn)的傳感器、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)及分析軟件，實(shí)現(xiàn)對力、位移、應(yīng)變等力學(xué)參數(shù)的精確測量與分析。它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、結(jié)構(gòu)工程、航空航天等領(lǐng)域，為科研及工業(yè)生產(chǎn)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。該技術(shù)具有測量范圍廣、精度高、實(shí)時性強(qiáng)等特點(diǎn)，有助于推動相關(guān)領(lǐng)域的科技進(jìn)步與發(fā)展。

力學(xué)參數(shù)精細(xì)測量技術(shù)相關(guān)內(nèi)容

全部
資訊
產(chǎn)品
問答

力學(xué)參數(shù)精細(xì)測量技術(shù)資訊

國家基金委專項(xiàng)項(xiàng)目指南—材料與結(jié)構(gòu)內(nèi)部全場力學(xué)參數(shù)精細(xì)測量技術(shù)與表征方法

本專項(xiàng)項(xiàng)目旨在發(fā)展基于新光源、新技術(shù)的內(nèi)部全場力學(xué)參數(shù)實(shí)驗(yàn)測量方法，研究不同深度量級的內(nèi)部三維應(yīng)力張量測量理論;發(fā)展內(nèi)部力學(xué)量高分辨原位測量技術(shù)

712
2020-08-29
力學(xué)參數(shù)精細(xì)測量技術(shù) 三維力學(xué)信息測量原位測量技術(shù)

力學(xué)參數(shù)精細(xì)測量技術(shù)產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱

所在地

價格

供應(yīng)商

咨詢

: RF-O2熒光光纖氧氣測量技術(shù)——氧氣測量全面解決方案; 國外歐洲; 面議; 北京易科泰生態(tài)技術(shù)有限公司
售全國; 我要詢價聯(lián)系方式

: 多參數(shù)光譜水質(zhì)集成測量模塊; 國內(nèi) 上海; 面議; 上海昊量光電設(shè)備有限公司
售全國; 我要詢價聯(lián)系方式

: 凌云光技術(shù) Gap精密測量解決方案; 國內(nèi) 北京; 面議; 凌云光技術(shù)股份有限公司
售全國; 我要詢價聯(lián)系方式

: 精細(xì)氧化鋁粉體BET比表面積分析儀; 國內(nèi) 北京; 面議; 貝士德儀器科技（北京）有限公司
售全國; 我要詢價聯(lián)系方式

: 高低溫陶器絕緣電阻率測量系統(tǒng); 國內(nèi) 北京; ￥12800; 北京冠測精電儀器設(shè)備有限公司
售全國; 我要詢價聯(lián)系方式

力學(xué)參數(shù)精細(xì)測量技術(shù)問答

2025-02-25 14:15:12掃頻儀測量電信號的參數(shù)有哪些？: 掃頻儀測量電信號的參數(shù) 掃頻儀作為一種高精度的測試工具，廣泛應(yīng)用于電信號測量和分析中。它的主要功能是通過連續(xù)掃描不同頻率的信號，從而準(zhǔn)確地測量信號的頻譜特性和其他關(guān)鍵參數(shù)。電信號的質(zhì)量和穩(wěn)定性在無線通信、廣播電視、電子儀器等領(lǐng)域中至關(guān)重要，因此，掃頻儀的測量結(jié)果為相關(guān)工程技術(shù)人員提供了必要的數(shù)據(jù)支持，幫助優(yōu)化電信號系統(tǒng)性能和故障診斷。本篇文章將深入探討掃頻儀在測量電信號參數(shù)中的應(yīng)用，分析其工作原理、測量方法以及其在實(shí)際工程中的重要作用。掃頻儀是一種基于頻率掃描原理的測量設(shè)備，它能夠?qū)斎氲碾娦盘栠M(jìn)行頻率范圍內(nèi)的逐頻測試，并捕捉信號的幅度變化。通過將頻率和幅度的關(guān)系圖像化，掃頻儀能夠幫助用戶快速、準(zhǔn)確地識別信號中的干擾、噪聲以及信號失真等問題。在現(xiàn)代通信、信號處理和電子設(shè)備的調(diào)試過程中，掃頻儀已經(jīng)成為不可或缺的工具。掃頻儀的測量過程中，重要的一個環(huán)節(jié)是頻率掃描。在這個過程中，掃頻儀通過設(shè)置掃描的起始頻率、終止頻率和掃描速率，逐步測試不同頻段的電信號。這樣，儀器能夠展示一個完整的頻譜圖，反映出信號在不同頻段的強(qiáng)度和波形特征。頻譜圖不僅可以展示信號的頻率分布情況，還可以揭示潛在的干擾源和頻率沖突，從而幫助工程師在設(shè)計(jì)和優(yōu)化電信號系統(tǒng)時作出更有效的決策。掃頻儀在測量電信號時，還可以提供一些其他關(guān)鍵參數(shù)，例如功率譜密度（PSD）、總諧波失真（THD）和信噪比（SNR）。這些參數(shù)對于評估電信號的質(zhì)量、分析信號的失真和干擾情況至關(guān)重要。例如，功率譜密度可以幫助識別信號中高頻噪聲的存在，而信噪比則能有效表征信號的純凈度，較高的信噪比意味著信號的質(zhì)量較好。總諧波失真則揭示了信號在傳輸過程中可能發(fā)生的非線性失真。掃頻儀的應(yīng)用不僅限于簡單的信號測量，它還可以在更復(fù)雜的系統(tǒng)中進(jìn)行深入的信號分析。例如，在無線通信基站的建設(shè)和維護(hù)中，掃頻儀可以幫助工程師檢查基站信號的頻譜，確保信號的覆蓋范圍沒有受到干擾。在衛(wèi)星通信、雷達(dá)系統(tǒng)和廣播電視等領(lǐng)域，掃頻儀也能有效地分析頻率響應(yīng)，監(jiān)控信號的穩(wěn)定性和質(zhì)量。掃頻儀在電信號測量中的重要性不可忽視。它通過精確的頻率掃描和多維度的信號分析，為電信號的優(yōu)化和故障排除提供了有力的支持。無論是在通信設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)調(diào)試，還是在實(shí)際使用中的維護(hù)和監(jiān)控，掃頻儀都發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。隨著科技的不斷發(fā)展，掃頻儀的性能和應(yīng)用領(lǐng)域也在不斷擴(kuò)展，未來它將繼續(xù)為各行業(yè)的電信號質(zhì)量保證提供強(qiáng)大的技術(shù)支持。

2023-03-07 22:09:15高通量單細(xì)胞力譜測定！多功能單細(xì)胞顯微操作技術(shù)助力單細(xì)胞力學(xué)研究: 單程細(xì)胞具有復(fù)雜生物學(xué)性質(zhì)，它們通過細(xì)胞外基質(zhì)ECM形成緊密的細(xì)胞與基質(zhì)細(xì)胞與細(xì)胞連接，諸如上皮細(xì)胞通過這種特殊的鏈接方式構(gòu)成了屏障層保護(hù)人體免受外界損傷。因此細(xì)胞之間以及細(xì)胞基底的粘附力測定對于研究細(xì)胞粘附蛋白的機(jī)制有著重要意義。使用力學(xué)工具測量細(xì)胞間以及細(xì)胞與基質(zhì)之間的粘附力始終不是一件容易的事情。首先，由于細(xì)胞與基質(zhì)的作用力僅為nN級別，因此需要力學(xué)精度較高的設(shè)備才能夠測量，而且在這其中較為適合的工具為原子力顯微鏡（AFM）。原子力顯微鏡能夠提供納米級別的操作精度并可測量從pN~nN范圍的力譜。但是受制于AFM探針本身的限制，需要借助修飾手段才能夠讓細(xì)胞與探針固定到一起，這個過程十分繁瑣，并且由于需要大量手工操作很難實(shí)現(xiàn)高通量的測量。而不同的細(xì)胞由于細(xì)胞異質(zhì)性使得要想確定粘附力需要較多樣本才能獲得相對準(zhǔn)確的值，無法實(shí)現(xiàn)高通量測量直接限制了原子力探針在細(xì)胞粘附力上的應(yīng)用。而多功能單細(xì)胞顯微操作FluidFM技術(shù)的出現(xiàn)改變了這一現(xiàn)狀，它使用特殊的中空探針能夠輕松地通過負(fù)壓抓取細(xì)胞，取得和AFM近似精度的數(shù)據(jù)，無需在探針上進(jìn)行任何修飾，不會改變細(xì)胞表面的任何通路，從而能夠得到接近細(xì)胞原生的數(shù)據(jù)。在實(shí)驗(yàn)結(jié)束后能夠通過正壓快速丟棄用過的細(xì)胞，具備很高的自動化，能夠快速測量細(xì)胞粘附力。使用FluidFM對細(xì)胞操作的基本流程 FluidFM在粘附力測量上具備顯著優(yōu)勢。如圖所示，F(xiàn)luidFM能夠通過負(fù)壓將細(xì)胞吸附到原子力探針的末端，通過高精度位移臺的控制將細(xì)胞從基底上分離，并且同時記錄FD曲線。通過FD曲線能夠獲得最大粘附力Fmax和粘附能量Emax。通過高度自動化的控制系統(tǒng)能夠在短時間內(nèi)測量大量細(xì)胞粘附力，評估細(xì)胞群體分布以及細(xì)胞間差異，并且可有效避免傳統(tǒng)粘附力測量因準(zhǔn)備時間過長而錯過最佳測量時間導(dǎo)致的細(xì)胞粘附力改變，得到更為精準(zhǔn)的結(jié)果。近期，Agoston等人使用多功能單細(xì)胞顯微操作系統(tǒng)FluidFM實(shí)現(xiàn)了高通量細(xì)胞粘附力測量，對同種細(xì)胞不同區(qū)以及不同細(xì)胞之間的粘附力進(jìn)行測量和比較。作者首先對Vero和Hela細(xì)胞在不同狀態(tài)下的粘附力進(jìn)行了測量和比較，總共測量了214個細(xì)胞。通過比較明膠涂層上處于單個細(xì)胞、孤島狀細(xì)胞、致密連接細(xì)胞以及單層細(xì)胞上游離細(xì)胞之間的粘附力，能夠明顯觀測到Vero細(xì)胞處于致密連接的細(xì)胞粘附力最大，大概在750 nN左右，隨著細(xì)胞單細(xì)胞層的稀疏，細(xì)胞粘附力有所下降，而處于細(xì)胞層頂部的細(xì)胞粘附力最低僅為50 nN左右。這一點(diǎn)充分說明上皮細(xì)胞能夠在細(xì)胞之間形成緊密的連接，而處于細(xì)胞層外的細(xì)胞則幾乎沒有粘附力。而對于HeLa這樣的腫瘤細(xì)胞測量的結(jié)果卻顯示出了截然不同的結(jié)果，處于不同狀態(tài)的細(xì)胞有著近似的粘附力，基本都在200 nN左右，這與處于單個游離上皮細(xì)胞的粘附力十分接近，表明HeLa細(xì)胞在不同環(huán)境下仍然具有較高遷徙能力。使用FluidFM對不同區(qū)域細(xì)胞的FD曲線測定結(jié)果和對比通過對這兩種細(xì)胞的最大粘附力、最大粘附能量、最大拉伸距離和細(xì)胞接觸面積進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析可以發(fā)現(xiàn)，HeLa腫瘤細(xì)胞在粘附力和粘附能量上均有所降低，但是當(dāng)HeLa細(xì)胞形成了單層后，兩者區(qū)別不大。對比Hela和Vero在不同生長狀態(tài)下的最大粘附力、最大粘附能量、粘附拉伸距離和粘附面積。再進(jìn)一步對Vero與HeLa細(xì)胞最大粘附力與距離和接觸面積進(jìn)行對比，依然可以得到與單獨(dú)比較粘附力相同的結(jié)果，并且最大能量與細(xì)胞接觸面積的比值中也存在著類似的結(jié)果。由此可見腫瘤細(xì)胞通過降低自身粘附力從而獲得了更好的遷移能力。對不同狀態(tài)Vero和A549之間的粘附力/粘附距離、粘附力/粘附面積、粘附能量/粘附面積總結(jié) 細(xì)胞粘附力測定在細(xì)胞生命科學(xué)研究中起著至關(guān)重要的作用，然而傳統(tǒng)手段中有著各種各樣的局限性，主要原因是缺乏一種有效抓取細(xì)胞并進(jìn)行力學(xué)測定的手段。現(xiàn)如今FluidFM技術(shù)在細(xì)胞粘附力測定中的應(yīng)用，使得研究者們有了一種能夠有效、低損的方式抓取細(xì)胞，配合原子力顯微鏡精確測量的特性，真正意義上做到精準(zhǔn)、無損、快速的測量單細(xì)胞粘附力，幫助研究者尋找細(xì)胞粘附力與細(xì)胞生命發(fā)展、腫瘤細(xì)胞轉(zhuǎn)移之間的關(guān)系。【參考文獻(xiàn)】[1] A. Sancho, M. B. Taskin, L. Wistlich, P. Stahlhut, K. Wittmann, A. Rossi & J. Groll. Cell Adhesion Assessment Reveals a Higher Force per Contact Area on Fibrous Structures Compared to Flat Surfaces. ACS Biomater. Sci. Eng. 2022, 8, 2, 649–658.[2] P.W. Doll, K. Doll, A. Winkel, R. Thelen, R. Ahrens, M. Stiesch & A.E. Guber. Influence of the Available Surface Area and Cell Elasticity on Bacterial Adhesion Forces on Highly Ordered Silicon Nanopillars. ACS Omega. 2022, 7, 21, 17620–17631.[3] Sankaran, S. Jaatinen, L. Brinkmann, J. Zambelli, T. V?r?s, J. Jonkheijm, P. Cell adhesion on dynamic supramolecular surfaces probed by fluid force microscopy-based single-cell force spectroscopy. ACS Nano 2017, 11, 3867–3874.[4] Sancho, A. Vandersmissen, I. Craps, S. Luttun, A. Groll, J. A new strategy to measure intercellular adhesion forces in mature cell-cell contacts. Sci. Rep. 2017, 7, 46152.[5] Ines, Lüchtefeld. Alice, Bartolozzi. Julián M. M. Oana, Dobre. Michele, Basso. Tomaso, Zambelli. Massimo, Vassalli. Elasticity spectra as a tool to investigate actin cortex mechanics. J Nanobiotechnol. 2020, 18, 147.[6] Dehullu, J. Valotteau, C. Herman-Bausier, P. Garcia-Sherman, M. Mittelviefhaus, M. Vorholt, J. A. Lipke, P. N. Dufrene, Y. F. Fluidic force microscopy demonstrates that homophilic adhesion by Candida albicans Als proteins is mediated by amyloid bonds between cells. Nano Lett. 2019, 19, 3846–3853.[7] Mittelviefhaus, M. Müller, D. B. Zambelli, T. Vorholt, J. A. A modular atomic force microscopy approach reveals a large range of hydrophobic adhesion forces among bacterial members of the leaf microbiota. ISME J. 2019, 13, 1878–1882.[8] F. Weigl, C. Blum, A. Sancho & J. Groll. Correlative Analysis of Intra- versus Extracellular Cell Detachment Events vis the Alignment of Optical Imaging and Detachment Force Quantification. Adv. Mater. Technol. 2022, 2200195.【相關(guān)產(chǎn)品】　　多功能單細(xì)胞顯微操作系統(tǒng)- FluidFM OMNIUM:http://www.ghhbs.com.cn/zt2203/product_386418.html

2023-05-30 10:15:02課堂 | 研究天然聚合物精細(xì)細(xì)節(jié)的微觀結(jié)構(gòu): 結(jié)合掃描電子顯微鏡的冷凍寬幅離子束銑削（Cryo-BIB-SEM）本報告評估了結(jié)合使用冷凍寬幅離子束銑削和掃描電子顯微鏡（cryo-BIB-SEM）對低溫穩(wěn)定柔性聚合物的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像和分析的潛能。報告介紹了使用cryo-BIB-SEM對易損天然聚合物進(jìn)行檢查的結(jié)果，例如番茄果皮和木材，還分析了聚合物表面形態(tài)和多種微觀結(jié)構(gòu)特性。聚合物的微觀結(jié)構(gòu)控制它們的化學(xué)反應(yīng)性以及機(jī)械和傳輸特性。然而，由于亞微米等級的分析方法比較少，通常無法對柔性聚合物的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行定量表征，或不具備相關(guān)的可行性條件。冷凍斷裂是少數(shù)可用的方法之一，但通過這種工藝制備的樣本表面通常過于粗糙，導(dǎo)致制備好的樣本上只有極小一部分區(qū)域適合定量SEM研究。本報告中的結(jié)果顯示，使用cryo-BIB-SEM可以對完好的樣本橫截面上的較大平面區(qū)域進(jìn)行高清晰成像，更好地對柔性聚合物進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)表征。在觀察過程中，在通過cryo-BIB-SEM樣本制備工藝加工的樣本中，僅發(fā)現(xiàn)極少量的偽影，而且均非冷凍導(dǎo)致。介紹聚合物微觀機(jī)構(gòu)會影響聚合物的機(jī)械和傳輸特性，進(jìn)而決定了材料的耐久性以及對風(fēng)化、冷熱和光照的耐受性，因此聚合物微觀結(jié)構(gòu)的精確表征非常重要。各類聚合物，無論是柔性、硬質(zhì)、天然還是合成，都是如此。Cryo-BIB-SEM可對表面完好的大尺寸低溫穩(wěn)定樣本的微孔進(jìn)行高清晰成像和化學(xué)分析。在上一篇報告中，使用Cryo-BIB-SEM研究了鋰離子電池電極在干燥過程中的微觀結(jié)構(gòu)[1]。本報告中使用cryo-BIB-SEM表征了天然聚合物，包括木頭和水果蔬菜的表皮。如前文所述，需要以亞微米級清晰度精準(zhǔn)確定柔性聚合物的微觀機(jī)構(gòu)。然而，很少有方法能夠在如此高分辨率下對這種柔性樣本進(jìn)行表征。另外，由于冷凍斷裂工藝制備的柔性聚合物樣本的表面過于粗糙，使用SEM或能量色散譜（EDS）進(jìn)行定量分析時，僅能夠準(zhǔn)確研究很小一部分的表面區(qū)域。而且有機(jī)材料往往會發(fā)生膨脹收縮，使用SEM進(jìn)行樣本制備和測量時，尤其是對于高水分含量的材料，通常很難在材料的原生狀態(tài)下進(jìn)行分析。微型計(jì)算機(jī)斷層成像（μCT）和SEM低溫聚焦離子束銑削（cryo-FIB-SEM）等方法的分辨率則通常過低或獲得的結(jié)果不具代表性。本應(yīng)用注意事項(xiàng)介紹了使用cryo-BIB-SEM在高分辨率（亞微米級）下對柔性、易損天然聚合物（木材和番茄表皮）的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征的過程。Cryo-BIB-SEM材料和方法Cryo-BIB可制備具有大平面區(qū)域的冷凍穩(wěn)定橫截面（可達(dá)4 mm2）。樣本制備中包含快速冷卻（淬火）步驟，可形成整齊的聚合物切口并大大降低造成斷裂、變形等損壞的風(fēng)險。使用液氮-雪泥對樣本進(jìn)行淬火，然后將樣本快速轉(zhuǎn)移至一個溫度保持LN2水平的低溫冷卻階段（圖1a）[2]。使用金剛石鋸在鈦(Ti)掩模上方幾十納米處切割低溫冷卻樣本，鈦掩膜在后續(xù)的濺射鍍膜過程中遮蔽樣本。使用cryo-BIB氬(Ar)離子束銑削，制備平整的大橫截面。接下來，根據(jù)所需的信息類型，可以使用兩種制備和成像方案，可以是EDS成分?jǐn)?shù)據(jù)或使用SEM獲得的精細(xì)結(jié)構(gòu)的高清晰圖像。在第一個方案中（圖1b），樣本經(jīng)濺射鍍膜處理以方便EDS/SEM分析并提供各階段紋理和成分的信息。在第二個方案中，樣本未經(jīng)過鍍膜處理，以便于滲入多孔表面中的水升華。這樣一來，之前被水隱藏的樣本微觀結(jié)構(gòu)便可以完全顯現(xiàn)出來。使用徠卡顯微系統(tǒng)的EM TIC 3X離子束銑削系統(tǒng)對木材和番茄皮（天然聚合物）樣本進(jìn)行冷凍寬幅離子束（cryo-BIB）銑削。將經(jīng)BIB銑削的樣本放進(jìn)SEM（Supra 55，蔡司）之前，首先使用徠卡顯微系統(tǒng)的EM ACE600鍍膜機(jī)的濺射、碳蒸發(fā)和電子束蒸發(fā)配置對樣本濺射鍍膜一層薄薄的鎢（W）。鎢層可防止不導(dǎo)電樣本被電子束輻射時充電。圖1a：cryo BIB-SEM樣本制備工作流程使用EM TIC 3X系統(tǒng)執(zhí)行cryo-BIB，使用EM ACE600系統(tǒng)進(jìn)行濺射鍍膜。圖1b：cryo-BIB-SEM研究中使用的2個方案的原理圖，用于研究樣本的：1）紋理和成本，和2）滲水后的精細(xì)亞微米結(jié)構(gòu)。結(jié) 果分析柔性天然聚合物的主要目的是驗(yàn)證cryo-BIB-SEM方法在樣本制備和分析過程中保存樣本的精細(xì)和易損結(jié)構(gòu)的能力。一個特別目標(biāo)是確定使用cryo-BIB-SEM樣本制備工藝制備的橫截面的質(zhì)量，即樣本橫截面是否存在偽影或損傷。番茄皮從一個新鮮番茄（圖2a）上切一小塊皮，然后按照圖1中的工作流程進(jìn)行制備，并按照方案2進(jìn)行分析。番茄皮含有大量水分，微觀結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜，因此是評估樣本制備過程中因形成冰晶而發(fā)生斷裂的可能性的理想材料。圖2b中顯示了一個番茄皮的橫截面，在橫截面的上部可以看到一小片鈦掩膜，掩膜上積聚了一些“濺射灰塵”。番茄細(xì)胞的精細(xì)結(jié)構(gòu)清晰可見，細(xì)胞形狀非常類似于之前光學(xué)顯微鏡觀察文獻(xiàn)中報告的形狀[3]。cryo-BIB-SEM方法的清晰度更高，可以分析易損微觀結(jié)構(gòu)的精細(xì)細(xì)節(jié)（圖2c）。低溫冷卻和切割過程中未發(fā)現(xiàn)造成任何損傷，這說明cryo-BIB-SEM方法可以為柔性易損天然聚合物分析制備無損傷、缺陷的樣本。圖2a：切割番茄的示例，表皮上標(biāo)注了橫截面（藍(lán)色長方形）。使用cryo-BIB-SEM研究了這種樣本。2b：Cryo-BIB-SEM圖像顯示了大片的番茄表皮橫截面樣本。圖2c：2b中使用cryo-BIB-SEM獲得的清晰度更高的番茄表皮橫截面圖像顯示了微觀結(jié)構(gòu)的精細(xì)細(xì)節(jié)。Cryo-BIB-SEM成像可揭示松木（樟子松）的細(xì)胞和微觀形態(tài)。寬幅離子束銑削方法制備的細(xì)胞壁表面，上面沒有切片機(jī)切割等制備方法造成的偽影。EDS提供了不同木材相位的成分，例如細(xì)胞膜質(zhì)中的碳（C）和因細(xì)胞中含有大量的水而存在的氧氣（O）[4]。圖3a：Cryo-BIB-SEM方法獲得的松木圖像（SE2），上面顯示了管胞（樹的木質(zhì)部運(yùn)輸組織的伸長細(xì)胞）的微觀形態(tài)和紋孔（細(xì)胞間流體交換的細(xì)胞壁部分）。3b：使用cryo-BIB方法制備的松木的EDS圖像（3a中的相同區(qū)域）細(xì)胞膜質(zhì)中的碳（C，紅色）信號和木材細(xì)胞所含水的氧氣（O，藍(lán)色）。概述與結(jié)論我們已經(jīng)介紹了cryo-BIB-SEM是一種可以研究易損柔性天然聚合物的橫截面的有效表征方法（番茄表皮和木材）。可對無損傷番茄表皮和木材細(xì)胞的微觀結(jié)構(gòu)的精細(xì)細(xì)節(jié)進(jìn)行高清晰成像。另外，cryo-BIB-SEM樣本制備過程中，未發(fā)現(xiàn)因制備而導(dǎo)致的斷裂或樣本損傷。參考文獻(xiàn)：1.S. Jaiser, J. Kumberg, J. Klaver, J.L. Urai, W. Schabel, J. Schmatz, P. Scharfer, Microstructure formation of lithium-ion battery electrodes during drying - An ex-situ study using cryogenic broad ion beam slope-cutting and scanning electron microscopy (Cryo-BIB-SEM), J. Power Sources (2017) vol. 345, pp. 97-107, DOI: 10.1016/j. jpowsour.2017.01.1172.J. Schmatz, J. Klaver, M. Jiang, J.L. Urai, Nanoscale Morphology of Brine/Oil/Mineral Contacts in Connected Pores of Carbonate Reservoirs: Insights on Wettability From Cryo-BIB-SEM, SPE Journal (2017) vol. 22, iss. 05, DOI: 10.2118/180049-PA.3.R. Metzner, H.U. Schneider, U. Breuer, W.H. Schroeder, Imaging Nutrient Distributions in Plant Tissue Using, Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry and Scanning Electron Microscopy, Plant Physiology (2008) vol. 147, pp. 1774–1787, DOI: 10.1104/ pp.107.109215.4.M. Nopens, J. Schmatz, Saturated pine wood sample, Pinus sylvestris, 2017, MaP Microstructures and Pores.

2023-06-08 14:15:05精細(xì)降本，裝備增效 | 安捷倫618“價格力”全線出擊

2023-02-24 11:28:18高通量、自動化單細(xì)胞力譜測定！多功能單細(xì)胞顯微操作全新技術(shù)助力單細(xì)胞力學(xué)研究: 研究現(xiàn)狀單程細(xì)胞具有復(fù)雜生物學(xué)性質(zhì)，它們通過細(xì)胞外基質(zhì)ECM形成緊密的細(xì)胞與基質(zhì)細(xì)胞與細(xì)胞連接，諸如上皮細(xì)胞通過這種特殊的鏈接方式構(gòu)成了屏障層保護(hù)人體免受外界損傷。因此細(xì)胞之間以及細(xì)胞基底的粘附力測定對于研究細(xì)胞粘附蛋白的機(jī)制有著重要意義。使用力學(xué)工具測量細(xì)胞間以及細(xì)胞與基質(zhì)之間的粘附力始終不是一件容易的事情。首先，由于細(xì)胞與基質(zhì)的作用力僅為nN級別，因此需要力學(xué)精度較高的設(shè)備才能夠測量，而且在這其中較為適合的工具為原子力顯微鏡（AFM）。原子力顯微鏡能夠提供納米級別的操作精度并可測量從pN~nN范圍的力譜。但是受制于AFM探針本身的限制，需要借助修飾手段才能夠讓細(xì)胞與探針固定到一起，這個過程十分繁瑣，并且由于需要大量手工操作很難實(shí)現(xiàn)高通量的測量。而不同的細(xì)胞由于細(xì)胞異質(zhì)性使得要想確定粘附力需要較多樣本才能獲得相對準(zhǔn)確的值，無法實(shí)現(xiàn)高通量測量直接限制了原子力探針在細(xì)胞粘附力上的應(yīng)用。多功能單細(xì)胞顯微操作FluidFM技術(shù)多功能單細(xì)胞顯微操作FluidFM技術(shù)的出現(xiàn)改變了這一現(xiàn)狀，它使用特殊的中空探針能夠輕松地通過負(fù)壓抓取細(xì)胞，取得和AFM近似精度的數(shù)據(jù)，無需在探針上進(jìn)行任何修飾，不會改變細(xì)胞表面的任何通路，從而能夠得到接近細(xì)胞原生的數(shù)據(jù)。在實(shí)驗(yàn)結(jié)束后能夠通過正壓快速丟棄用過的細(xì)胞，具備很高的自動化，能夠快速測量細(xì)胞粘附力。使用FluidFM對細(xì)胞操作的基本流程FluidFM在粘附力測量上具備顯著優(yōu)勢。如圖所示，F(xiàn)luidFM能夠通過負(fù)壓將細(xì)胞吸附到原子力探針的末端，通過高精度位移臺的控制將細(xì)胞從基底上分離，并且同時記錄FD曲線。通過FD曲線能夠獲得最大粘附力Fmax和粘附能量Emax。通過高度自動化的控制系統(tǒng)能夠在短時間內(nèi)測量大量細(xì)胞粘附力，評估細(xì)胞群體分布以及細(xì)胞間差異，并且可有效避免傳統(tǒng)粘附力測量因準(zhǔn)備時間過長而錯過最佳測量時間導(dǎo)致的細(xì)胞粘附力改變，得到更為精準(zhǔn)的結(jié)果。