剪切干涉儀

• 提供5種型號，光束直徑范圍從1到50 mm

• 定性地確定光的準(zhǔn)直性

• 磁鐵球?qū)骞潭ㄔ诘鬃?/p>

• 適用的光束直徑刻在板上

根據(jù)所用剪切板的不同，剪切干涉儀可用于直徑小到1 mm、大到50 mm的入射光。剪切干涉儀產(chǎn)生的干涉條紋對光束發(fā)散很敏感，因此可以用來定性地確定光是否準(zhǔn)直。如右圖所示，剪切板有三個鋼球，以磁性吸附的方式固定在板的底部。當(dāng)采用不同直徑的光束時，這種磁性固位機制易于更換不同的平板。兼容的平板和底座型號請查看規(guī)格標(biāo)簽。

此外，底板的背面鉆有通孔，因此可以使得透射光通過楔形光學(xué)平板繼續(xù)毫無阻礙地傳播。除了SI500，所有型號的通孔均為SM1螺紋(1.035"-40)。SI500的通孔為?2.95英寸(?75 mm)滑孔。底板、散射屏和剪切板包裝在一個手提箱內(nèi)。

請注意由于SI100、SI254和SI500剪切板的厚度原因，剪切板的后表面會超出安裝板(如右圖所示)。因此，當(dāng)插入或者移除這些板的時候要格外小心，尤其是安裝了SICP或者SICPSM1籠式轉(zhuǎn)接板的情況下。

楔形光學(xué)平板通過三個磁塊夾持住。

規(guī)格

1. 為了確保能產(chǎn)生干涉，請檢查所用的光源的有xiao相干長度大于光程長(ΔOPL)的近似變化。當(dāng)使用光源的相干長度達(dá)到ΔOPL的幾倍，干涉條紋的對比度會下降。一旦相干長度接近ΔOPL，就是在對非相干光有xiao成像。假設(shè)平行反射表面被厚度分開，針對UVFS(n=1.457@632.8 nm)計算的ΔOPL列在上表中。

2. 由于光學(xué)元件的厚度，剪切儀的背面會超出安裝板。因此，在插入或移除這些板的時候，尤其是安裝了SICP和SICPSM1這些籠式轉(zhuǎn)接件時，要格外小心。

1. 楔形板用UVFS制成

2. 帶有不同楔形角的不同板可以提供不同大小的光束。這是優(yōu)化特定光束直徑的板之間距離，從而產(chǎn)生干涉條紋。

3. SIVS是設(shè)計用來觀察由小直徑光束產(chǎn)生的條紋。雖然它與SI254兼容，但沒bi要和SI254一起使用，因為SI254就是用來觀察大直徑光束。

上圖是UVFS在光垂直入射時的透過率曲線。其中UVFS樣品未鍍膜，厚度為1 mm，數(shù)據(jù)包含表面反射。

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