• 三種雙掃描狹縫光束輪廓儀型號

• Item # BP209-VIS(/M)：200 nm - 1100 nm

• Item # BP209IR1(/M)：500 nm - 1700 nm

• Item # BP209-IR2(/M)：900 nm - 2700 nm

• 高精度分析近高斯光束質量

• 重建2D和偽3D空間功率分布

• 單個獨立測量頭

• 測量連續光束或≥10 Hz的脈沖光束

• 掃描速率從2到20 Hz

• 用戶可校準的功率讀數(請看用戶手冊了解校準步驟)

• 動態范圍78 dB

• 低噪聲放大器

• USB 2.0高速接口連接PC

Thorlabs的雙掃描狹縫式光束輪廓儀非常適合分析近似高斯光束的截面輪廓。可以在2 Hz到20 Hz之間的掃描速率(可以使用軟件設定)下，測量光束截面中用戶指定的X軸和Y軸的強度輪廓。20 Hz的高掃描速率能夠實時對準光學系統。這些光束輪廓儀主要用于連續激光束，也可以采用平均法測量≥10 Hz的脈沖光束(更多信息，請看工作標簽)。測量結果可用于評估光束質量、檢查重建的光束輪廓以及監測長期穩定性。

所有三種雙掃描狹縫式光束輪廓儀型號都有?9 mm輸入孔徑，通過連續掃描兩個寬度相同且互相垂直的狹縫測量輸入激光束。使用軟件切換5 μm或25 μm寬的狹縫對、選擇掃描狹縫或刀口工作模式、設置其它掃描選項等。有關不同狹縫寬度和工作模式的功能和用法信息，請看工作標簽。

這些掃描狹縫光束輪廓儀配備低噪聲電子元件，具有78 dB高動態范圍，能夠測量直徑在2.5 μm和9 mm之間的光束。光束直徑參考ISO 11146標準測量，可按照多種行業標準的限幅水平顯示，比如1/e2(13.5%)、50%或用戶設定的任意限幅水平值。當所測光束不具有近高斯光束形狀，或者需要對脈沖光束進行單次測量，我們推薦使用我們的CMOS相機式光束輪廓儀。

1. 公英制型號的區別只有底板上的螺紋孔不同。

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