CTLD-1000熱釋光劑量片殘余劑量的評(píng)估
CTLD-1000熱釋光劑量片殘余劑量的評(píng)估
(北京瑞輻特輻射測(cè)量?jī)x器有限公司)
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1、 殘余劑量 殘余劑量是評(píng)價(jià)熱釋光劑量片性能的一個(gè)重要指標(biāo)。GB/T10264-2014個(gè)人和環(huán)境監(jiān)測(cè)用熱釋光劑量測(cè)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)未專門對(duì)探測(cè)器殘余劑量性能作出了規(guī)定,本實(shí)驗(yàn)參照標(biāo)準(zhǔn)對(duì)劑量計(jì)殘余劑量的性能要求進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)要求給出對(duì)探測(cè)閾和響應(yīng)的影響性能。
a.對(duì)探測(cè)閾的影響
準(zhǔn)備、輻照并讀出10個(gè)探測(cè)器,輻照的劑量約定真值(C)為0.10Gy〔輻照劑量約定真值對(duì)于 P(ALL) 系統(tǒng)應(yīng)約為100mGy對(duì)于E(ALL)系統(tǒng)應(yīng)為10 mGy〕。
再準(zhǔn)備并讀出這10個(gè)探測(cè)器。求出每個(gè)探測(cè)器的劑量評(píng)定值(Ei)、平均劑量評(píng)定值(E)及標(biāo)準(zhǔn)偏差(s)。應(yīng)有:
tn×s≤H
式中,tn是具有(n-1)個(gè)自由度的學(xué)生分布因數(shù)(n為檢驗(yàn)中使用的探測(cè)器的數(shù)目);H為探測(cè)閾Z (表1)。
表1、探測(cè)閾Zda允許限
系統(tǒng)種類 | 探測(cè)閾(H) |
P(7mg·cm-2) | 0.1mSv |
P(1000mg·cm-2) | 0.5mSv |
E(ALL)(7d) | 10μSv |
E(ALL)(30d) | 30μSv |
表2給出了殘余劑量對(duì)探測(cè)閾的影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
表2、殘余劑量對(duì)探測(cè)閾的影響結(jié)果
熱釋光劑量片名 稱 | 型 號(hào) | 規(guī)格 (mm) | tn×s (mSv) |
LiF:Mg,Ti | CTLD-100 | 4×4×0.8 | 5.90×10-3 |
Φ4.5×0.8 | 1.49×10-2 | ||
LiF:Mg,Ti-M | CTLD-100M | 4×4×0.8 | 2.12×10-2 |
Φ4.5×0.8 | 2.54×10-2 | ||
6LiF:Mg,Ti | CTLD-600 | 3×3×0.8 | 1.39×10-2 |
7LiF:Mg,Ti | CTLD-700 | 5×5×0.8 | 3.60×10-3 |
CaSO4:Dy(Teflon) | CTLD-10T | Φ5×0.7 | 5.70×10-3 |
LiF:Mg,Cu,P(AR) | CTLD-1000 | 4×4×0.8 | 1.89×10-4 |
LiF:Mg,Cu,P(GR) | CTLD-1000 | Φ4.5×0.8 | 8.80×10-3 |
6LiF:Mg,Cu,P | CTLD-6000 | Φ4.5×0.8 | 1.41×10-2 |
7LiF:Mg,Cu,p | CTLD-7000 | Φ4.5×0.8 | 1.81×10-3 |
表中結(jié)果表明:探測(cè)器殘余劑量對(duì)探測(cè)閾的影響性能滿足標(biāo)準(zhǔn)中系統(tǒng)種類要求。探測(cè)器殘余劑量對(duì)探測(cè)閾的影響結(jié)果和探測(cè)器的靈敏度、一致性有關(guān)。表中探測(cè)器本底值(r0)的測(cè)量精度約為8%-36%,改善探測(cè)器的一致性,提高測(cè)量精度,可以減小殘余劑量對(duì)探測(cè)器的影響性能。
b. 對(duì)響應(yīng)的影響
準(zhǔn)備輻照并讀出對(duì)探測(cè)閾的影響實(shí)驗(yàn)中用過(guò)的10個(gè)探測(cè)器,輻照的劑量約定真值為0.2mGy。
求出每個(gè)探測(cè)器的讀出值(ri)、平均讀出值()及置信區(qū)間(I)。應(yīng)有:
表3給出了探測(cè)器殘余劑量對(duì)響應(yīng)的影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果
表3、探測(cè)器殘余劑量影響結(jié)果
名 稱 | 型 號(hào) | 規(guī)格 (mm) | ||
LiF:Mg,Ti | CTLD-100 | 4×4×0.8 | 0.975 | 1.024 |
Φ4.5×0.8 | 0.979 | 1.022 | ||
LiF:Mg,Ti-M | CTLD-100M | 4×4×0.8 | 0.978 | 1.091 |
Φ4.5×0.8 | 0.976 | 1.025 | ||
6LiF:Mg,Ti | CTLD-600 | 3×3×0.8 | 0.976 | 1.024 |
7LiF:Mg,Ti | CTLD-700 | 5×5×0.8 | 0.991 | 1.009 |
CaSO4:Dy(Teflon) | CTLD-10T | Φ5×0.7 | 0.907 | 1.089 |
LiF:Mg,Cu,P(AR) | CTLD-1000 | 4×4×0.8 | 0.986 | 1.004 |
LiF:Mg,Cu,P(GR) | CTLD-1000 | Φ4.5×0.8 | 0.979 | 1.003 |
6LiF:Mg,Cu,P | CTLD-6000 | Φ4.5×0.8 | 0.987 | 1.023 |
7LiF:Mg,Cu,p | CTLD-7000 | Φ4.5×0.8 | 0.951 | 1.030 |
表中結(jié)果表明:探測(cè)器殘余劑量對(duì)響應(yīng)的影響性能滿足標(biāo)準(zhǔn)的要求。
探測(cè)器殘余劑量和探測(cè)器的靈敏度一致性有關(guān)。改善探測(cè)器的一致性,可以提高探測(cè)器殘余劑量對(duì)響應(yīng)的影響性能指標(biāo)。殘余劑量對(duì)響應(yīng)的影響性能檢驗(yàn)是將殘余劑量限制在輻照劑量的0.2%以內(nèi)。
2、討論
LiF:Mg,Cu,P熱釋光探測(cè)器具有靈敏度高、能量響應(yīng)性好等特點(diǎn),因而在個(gè)人、環(huán)境輻射低劑量測(cè)量的領(lǐng)域中倍受人們的關(guān)注,但由于LiF:Mg,Cu,P片狀熱釋光探測(cè)器存在靈敏度變化的問(wèn)題,限制了它的推廣應(yīng)用。國(guó)內(nèi)外一些實(shí)驗(yàn)室對(duì)此做了大量的研究,其靈敏度下降有所緩和。本實(shí)驗(yàn)室對(duì)LiF:Mg,Cu,P的制備工藝及劑量特性做了較為深入的研究,改善了發(fā)光曲線的形狀、減小了低溫峰對(duì)劑量測(cè)定峰的影響、解決了測(cè)定峰后沿偏高的問(wèn)題,其靈敏度下降的問(wèn)題得到了進(jìn)一步的改善。在實(shí)驗(yàn)中觀察到:LiF:Mg,Cu,P、LiF:Mg,Ti和LiF:Mg,Ti-M的衰退現(xiàn)象和發(fā)光曲線的形狀有關(guān)。改善發(fā)光曲線的形狀,采用合適的測(cè)量參數(shù)是進(jìn)一步解決熱釋光探測(cè)器衰退的有效方法,本實(shí)驗(yàn)室正在開(kāi)展這方面的研究工作。
經(jīng)過(guò)劑量敏化的LiF:Mg,Ti熱釋光探測(cè)器提高了靈敏度,但其本底值加大,采用紫外退火可降低本底值,其效果和紫外光的波長(zhǎng)有關(guān)。不同波長(zhǎng)的紫外光對(duì)不同陷阱內(nèi)電子遷移率不同,235mn紫外光遷移效率Zda,而波長(zhǎng)290nm的紫外光,對(duì)低于320℃陷阱內(nèi)的電子遷移率比高于320℃的大10倍,利用波長(zhǎng)290nm的紫外光對(duì)不同陷阱電子遷移作用有選擇的特點(diǎn),預(yù)期可進(jìn)一步提高紫外退火的效果。
研制的LiF:Mg,Ti-M熱釋光探測(cè)器呈現(xiàn)出較好的劑量學(xué)特性。可望在制備過(guò)程中控制探測(cè)器的分散性。
建立的β熱釋光探測(cè)器制備工藝解決了探測(cè)器易變型及靈敏度低和CaSO4熱釋光探測(cè)器的成型問(wèn)題。
熱釋光探測(cè)器是一種無(wú)源器件,易實(shí)現(xiàn)大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)量。隨著熱釋光探測(cè)技術(shù)的逐步完善,熱釋光探測(cè)技術(shù)在臨床劑量學(xué)體內(nèi)劑量分布測(cè)量,輻射劑量學(xué)個(gè)人、環(huán)境、事故劑量測(cè)量等領(lǐng)域中的應(yīng)用,將會(huì)起到越來(lái)越重要的作用。
為了進(jìn)一步完善熱釋光探測(cè)器的劑量特性,需對(duì)其制備工藝及劑量特性做更深入的研究,逐步完善熱釋光探測(cè)技術(shù)方法,拓寬其應(yīng)用領(lǐng)域。
3、探測(cè)器型號(hào)對(duì)照表
名 稱 | 型 號(hào) | (北京瑞輻特公司) | ||||
LiF:Mg,Ti | CTLD-100 | CTLD-100 | CTLD:原型號(hào) CTLD:現(xiàn)型號(hào) CTLD-100M:敏化探測(cè)器 | |||
LiF:Mg,Ti-M | CTLD-100M | CTLD-100M | ||||
6LiF:Mg,Ti | CTLD-600 | CTLD-600 | ||||
7LiF:Mg,Ti | CTLD-700 | CTLD-700 | ||||
LiF:Mg,Cu,P | CTLD-1000 | CTLD-1000 | ||||
6LiF:Mg,Cu,P | CTLD-6000 | CTLD-6000 | ||||
7LiF:Mg,Cu,p | CTLD-7000 | CTLD-7000 |
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