
- 2025-01-21 09:30:33干涉顯微鏡
- 干涉顯微鏡是一種利用光的干涉原理進行測量的高精度顯微鏡。它通過光波的疊加與干涉,形成明暗相間的干涉條紋,從而實現對物體表面微小形貌的高精度測量。干涉顯微鏡廣泛應用于半導體、光學元件、材料科學等領域,用于檢測表面缺陷、測量表面粗糙度及形貌等。其特點在于測量精度高、非接觸式測量且對環境要求較低。
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干涉顯微鏡相關內容
干涉顯微鏡資訊
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- 顯微鏡實現微分干涉觀察需要哪些部件?
- 為了使影像的反差達到最佳狀態,可通過調節DIC滑行器的縱行微調來改變光程差,光程差可改變影像的亮度。
干涉顯微鏡文章
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- 3D顯微鏡 納米級至毫米級表面形貌分析儀器
- 3D顯微鏡神影系列 Miracle Vision-1000,以其光學檢測技術,滿足不同行業和應用場景的嚴苛需求。無論是生物芯片、半導體、光學材料檢測,我們都提供定制化的觀察和測量解決方案。
干涉顯微鏡產品
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干涉顯微鏡問答
- 2023-03-20 15:20:57微分干涉顯微鏡下的屏幕瑕疵
- 微分干涉顯微鏡下的屏幕瑕疵微分干涉是顯微成像技術中的扛鼎之作,它具有立體感強、成像清晰、細節豐富等特點。1952年,Nomarski在相差顯微鏡原理的基礎上發明了微分干涉顯微鏡,微分干涉英文簡稱DIC,是顯微成像技術中的一種,分為觀察水生物等透明樣品用的透射DIC(生物DIC)和觀察電路板等樣品用的落射DIC(金相DIC)。在生物領域與相差顯微鏡相比,DIC的標本厚度可以略厚一點,而且立體感和細節更好。金相顯微鏡MJ43微分干涉顯微鏡相較于一般的顯微鏡有四個特殊的光學組件:起偏器、檢偏器、一對帶滑行器的DIC棱鏡(金相DIC只需一個DIC棱鏡),并且搭配專門的DIC物鏡進行微分干涉觀察。DIC的原理為顯微鏡光源通過聚光系統前面的偏振器時光線發生線性偏振,再經過聚光鏡中的DIC棱鏡將一束光分解成偏振方向不同的兩束光(x和y),這兩束光相位一致,在穿過標本相鄰區域后,由于標本的厚度和折射率不同,引起了兩束光發生了光程差。在物鏡后焦面處安裝的DIC棱鏡把兩束光合并成一束。光束穿過檢偏器,到達觀察頭成像。x和y波的光程差決定著透光的多少。光程差為0時沒有光穿過檢偏器,光程差為波長一半時,穿過的光達到大值。于是在灰色背景上,標本結構呈現出暗亮差。光程差可改變影像的亮度,為了使影像反差達到大,可通過調節DIC滑行器來改變光程差,使得標本的細微結構呈現出正或負的投影形象,通常是一側亮,而另一側暗,這便造成了標本的人為三維立體感,類似大理石上的浮雕。微分干涉顯微鏡通常用于觀察透明的活體細胞或者經過透明化處理的樣品,適用于研究活細胞中較大的細胞器,如果接上錄像裝置可以記錄活細胞中的顆粒以及細胞器的運動。活細胞由于是透明的,不容易被發現,所以需要有些地方相互對比明顯才可觀察。微分干涉顯微鏡可使細胞的結構,特別是一些較大的細胞器,如核、線粒體等,立體感特別強,適合于顯微操作。目前像基因注入、核移植、轉基因等的顯微操作常在這種顯微鏡下進行。當我們用普通明場顯微鏡觀察屏幕水晶膜樣品損傷部位時,屏幕水晶膜樣品損傷部位輪廓結構看不清晰,且樣品的反差效果不明顯,難以找到屏幕水晶膜的損傷部位,而我們利用明美微分干涉顯微鏡MJ43+MC50-S相機觀察屏幕水晶膜損傷部位時,如圖一、圖二所示,我們可以很清晰的看到屏幕水晶膜的損傷部位的輪廓結構,且其結構邊緣有很好的反差效果,使屏幕水晶膜樣品損傷部位呈現出很好的立體浮雕的感覺,細節非常清晰明了。明美是國家高新技術企業,創立至今已20年,專注于顯微鏡以及顯微成像系統產品的研發、生產和銷售,致力于顯微成像領域的自動化、數字化、智能化;明美迄今已為10萬+的用戶提供過產品以及服務;明美曾屢獲國家創新基金支持,被廣東省科技廳認定為顯微成像工程技術研究。公司以品質謀發展,以服務為宗旨,連續11年獲守合同重信用企業認證,已通過ISO9001質量管理體系、ISO14001環境管理體系、ISO13485醫療器械質量管理體系和知識產權管理體系認證,擁有二類醫療器械生產資質。明美總部位于廣州,在全國20余個大中城市均設有服務網點,提供完善的專業服務。免責聲明本站無法鑒別所上傳圖片、字體或文字內容的版權,如無意中侵犯了哪個權利人的知識產權,請來信或來電告之,本站將立即予以刪除,謝謝。 來源:https://www.mshot.com/article/1686.html
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- 2020-04-17 11:30:54為什么微分干涉顯微鏡不需要相干光源?
- 光路路線: 為什么微分干涉顯微鏡(DIC)不需要相干光源?
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- 2020-04-20 09:50:04MX4R 微分干涉顯微鏡 爆破粒子檢測顯微鏡
- MX4R金相顯微鏡采用靈活的系統組合、的成像性能、穩定的系統結構,MX4R系列專業應用于工業檢測及金相分析領域,各操作機構根據人機工程學設計,大限度減輕使用疲勞。模塊化的部件設計,可對系統功能進行自由組合。集成了明場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能,可根據實際應用,進行功能選擇。全新采用半復消技術,集明場、斜照明、偏光等多種觀察方式,任何觀察模式下都能呈現清晰銳利的顯微圖像,可根據實際應用,進行功能選擇,是工業檢測的有效工具。 性能特點1)MX4R系列為全新型FPD檢查顯微鏡,專為LCD行業 / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查2)MX4R系列機型采用4寸、6寸平臺設計,可適用于相應尺寸的晶圓或小尺寸樣品的金相檢查 3)MX4R系列,其微分干涉效果可與進口品牌相媲美 4)MX4R系列機型采用全新設計的長工作距物鏡、半復消色差技術,采用長壽命LED光源5)多種高度功能化的附件,能滿足各種檢驗需要,可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察■ 采用無限遠色差校正光學系統■ 長工作距、明暗場兩用平場消色差物鏡,成像清晰、像面平坦■ 配備反射式柯拉照明系統,為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明■ 正像三通觀察筒,30°傾斜,極大的提高了觀察的舒適性與操作的適應性■ 配備了4寸帶離合器的機械平臺230X215mm,行程105mmX105mm,可快速移動■ 良好的人機工程學設計,高剛性鏡筒,“Y”型底座,調焦機構采用前置式操作控制■ 光源采用寬電壓數字調光技術,具有光強調定與復位功能■ 可選配攝影攝像裝置、簡易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等附件,拓展應用領域★ 可選配6英寸三層機械移動平臺,平臺面積445×240mm,行程158×158mm;玻璃載物臺板,透反兩用平臺;★ 可選配標準微分干涉(DIC)裝置、OLYMPUS微分干涉(DIC)裝置
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- 2020-04-17 10:53:28MX4R 微分干涉顯微鏡 爆破粒子檢測顯微鏡
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- 2020-04-13 10:44:07 什么是微分干涉顯微鏡?DIC是什么原理?
- 1952年,Nomarski在相差顯微鏡原理的基礎上發明了微分干涉差顯微鏡。DIC顯微鏡又稱Nomarski相差顯微鏡(Nomarki contrast microscope),其優點是能顯示結構的三維立體投影影像。與相差顯微鏡相比,其標本可略厚一點,折射率差別更大,故影像的立體感更強。 微分干涉相襯顯微鏡(DIC顯微鏡 differential interference contrast microscope)的物理原理完全不同于相差顯微鏡,技術設計要復雜得多。DIC利用的是偏振光,透射式DIC顯微鏡有四個特殊的光學組件:偏振器(polarizer)、DIC棱鏡、DIC滑行器和檢偏器(analyzer)。偏振器直接裝在聚光系統的前面,使光線發生線性偏振。在聚光器中則安裝了石英Nomarski棱鏡,即DIC棱鏡,此棱鏡可將一束光分解成偏振方向不同的兩束光(x和y),二者成一小夾角。聚光器將兩束光調整成與顯微鏡光軸平行的方向。Z初兩束光相位一致,在穿過標本相鄰的區域后,由于標本的厚度和折射率不同,引起了兩束光發生了光程差。在物鏡的后焦面處安裝了第二個Nomarski棱鏡,即DIC滑行器,它把兩束光波合并成一束。這時兩束光的偏振面(x和y)仍然存在。Z后光束穿過第二個偏振裝置,即檢偏器。在光束形成目鏡DIC影像之前,檢偏器與偏光器的方向成直角。檢偏器將兩束垂直的光波組合成具有相同偏振面的兩束光,從而使二者發生干涉。x和y波的光程差決定著透光的多少。光程差值為0時,沒有光穿過檢偏器;光程差值等于波長一半時,穿過的光達到Z大值。于是在灰色的背景上,標本結構呈現出亮暗差。為了使影像的反差達到Z佳狀態,可通過調節DIC滑行器的縱行微調來改變光程差,光程差可改變影像的亮度。調節DIC滑行器可使標本的細微結構呈現出正或負的投影形象,通常是一側亮,而另一側暗,這便造成了標本的人為三維立體感,類似大理石上的浮雕,如下圖。 DIC顯微鏡下的硅藻(偽彩色) DIC顯微鏡使細胞的結構,特別是一些較大的細胞器,如核、線粒體等,立體感特別強,適合于顯微操作。目前像基因注入、核移植、轉基因等的顯微操作常在這種顯微鏡下進行。 落射式的DIC顯微鏡則只需要三個特殊的光學組件:偏振器(polarizer)、DIC棱鏡和檢偏器(analyzer),其光學原理如圖所示: 由圖可知:由光源發出的光波經起偏器后經半透半反鏡入射至Nomarski偏振棱鏡,棱鏡將其分成兩束具有微小夾角、振動方向相互垂直且振幅相等的線偏振光,通過筒長無限顯微物鏡后,產生剪切量為△x(略小于顯微鏡分辨率)的平行光入射到放置在載物臺上的被測表面,從被測表面反射的兩束正交偏振光各自經原路返回,由棱鏡重新復合共線,經檢偏器后成像在像面上。由于被剪切的光束產生的分離量略小于顯微鏡的分辯極限,因而在視場中看不到干涉條紋,通過將被測樣品的位相變化轉化為光強的變化,可看到具有立體感的浮雕成像。 DIC顯微鏡廣泛應用于生物醫學、材料科學等領域。 微分干涉相襯觀察法 (DIC) 顯微鏡檢查是明場顯微鏡檢查的明智之選,利用這種先進的技術手段可以觀察到未染色的試樣,而這些試樣在明場中成像較弱。 利用偏振光觀察浮雕樣成像 未染色試樣通常并不顯眼,在明場顯微鏡檢查中幾乎看不到試樣的細節。但實際上,這些試樣會與穿過它們的光源發生作用,并產生相移,而這些現象肉眼是看不見的。染色會導致振幅偏移,且穿過的光線強度會存在差異,但絕大多數情況下,無生命的試樣才會發生上述現象。DIC 顯微鏡檢查是一種利用光程長度的梯度差和相移,令相位物體在光學顯微鏡下清晰可見的技術手段。用戶可以利用這種方式,通過適當的相襯度和分辨率來觀察活細胞和有機體。 DIC 顯微鏡產生的圖像為浮雕狀,看起來有投影。這些圖像沒有光暈現象,相對其他顯微鏡而言,由于具備光學切片功能,即使較厚的試樣也依然能夠成像。 在 DIC 顯微鏡檢查中,只有偏振光可用于試樣照明。上述偏振光通過偏光正交平面,被色散成兩條不同的光射線。這兩條光射線彼此非常接近。由于這兩條光射線在試樣中會發生折射或散射,因此,會產生不同的相移。如果這些光射線重新聚合,它們會互相干涉。光線此時為橢圓偏光。該偏光將通過檢偏鏡轉變成振幅移位。通過這種方式,令高達 1/200 波長(使用照相機時,甚至達 1/1000 波長)之間波長差的相位移動,以及整個波長都清晰可見。 內容來源:景通儀器 原文地址: http://www.sipmv.com/support/faq/2048/文章出自:科信儀器 轉載時必須以鏈接形式注明作者和原始出處及本聲明。本文鏈接地址:http://www.pelttech.com/item_8_213_0.shtml
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