賽默飛推出的全新臺式掃描電鏡 Phenom Pharos 搭載肖特基場 發射電子槍，可穩定提供超高信號質量的顯微照片，這意味著無 需嚴苛的安裝條件，場發射電鏡便可以為更多科研工作者提供服 務。得益于 Phenom Pharos 對極簡工業設計原則的秉持，這 款電鏡從安裝到實際使用的整個過程都極其簡單。Pharos 設計 精巧，且選用了高質量探頭，這使得它的成像速度超快，測試結 果穩定可靠。

產品技術參數：

能譜面掃描和線掃描 

元素面掃描功能顯示整個樣品的元素分布。指定像素分辨率和獲 取時間之后，即可獲取某元素的分布情況。實時面掃描算法實時 顯示所選元素的分布情況。對于用戶來說，只需選取感興趣的位 置即可。 線掃描功能顯示了線圖中的量化的元素分布。這對于涂層、涂料 和其他多層樣品尤其有用。所有的面掃描和線掃描功能的結果都 可以通過自動化的報表模板輕松導出。

 二次電子探測器 

二次電子探測器 (SED) 可選用在 Phenom Pharos 上，SED 從 樣品的表層收集低能量電子。因此，它是分析樣品表面信息的最 佳選擇。SED 可以很好地應用于表面和形態分析。在研究微觀結 構、納米結構或顆粒時，這就很有意義。

應用多樣性 

為滿足不同領域的測試需求，Phenom Pharos 擁有多種特定功 能的樣品杯，如金相杯、溫控杯、原位通電杯和傾斜旋轉杯等。 測試時，您只需簡單更換樣品杯，就能滿足特殊樣品的測試需求。