Innova? 原子力顯微鏡 （AFM）體積較小，成本適中，為科學研究提供了嚴謹而靈活的解決方案。其獨特的閉環掃描系統既確保了高的測試精度，又可以實現與開環測試相媲美的噪聲水平。高分辨率的彩色光鏡、開放式樣品臺和強大的測試軟件使實驗變得便捷省時。Innova 致力于高分辨成像，在物理學、生命科學和材料科學等研究中發揮著重要作用。

杰出的閉環控制

準確測量所有尺寸

無扭曲地對任意結構進行一步縮放掃描。

低噪音性能

高分辨率光學系統

符合人體工程學的正置光學系統

可軟件控制馬達驅動縮放和照明光強度。

精確探針定位

快速而簡單的探針和樣品更換

可編程控制的Z軸

預安裝的探針保證了精密的激光對準

優越的探針與樣品之間的物理和光學空間

閉環線性化掃描可以在線啟動或關閉

在90微米到亞微米級成像范圍內均可獲得高質量圖像

支持全系列掃描探針顯微鏡模式

Contact Mode（接觸模式）

TappingMode（輕敲模式）

Scanning Tunneling Microscopy (掃描隧道顯微鏡) 

PhaseImaging?（相位成像）

Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡) 

Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡) 

Conductive Atomic Force Microscopy (導電原子力顯微鏡) 

Scanning Capacitance Microscopy (掃描電容顯微鏡) 

Surface Potential Microscopy (表面電勢顯微鏡) 

Force Distance Spectroscopy（力曲線）

Current Voltage Spectroscopy（電流-電壓曲線）

Nanoindentation（納米壓痕）

Nanolithography（納米刻蝕）

And more（等等）