透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope），簡稱透射電鏡（TEM），是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦后在成像器件上顯示出來。

由于電子的德布羅意波長非常短，透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高的很多，可以達到0.1～0.2 nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍。因此，使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細結構，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結構，比光學顯微鏡所能夠觀察到的Z小的結構小數(shù)千倍。

TEM在許多科學領域中都是重要的分析方法，如電池、腐蝕、材料科學、納米技術、半導體研究、病毒學等等，電化學技術與TEM的結合，可以在反應過程中，實時、原位了解界面變化過程，在納米尺度，進行更加深入的研究。

Gamry電化學專家David Loveday博士和 Protochips公司Madeline Dukes博士，聯(lián)袂為大家?guī)淼倪@場講座“Introduction to Electrochemistry and its Integration to In Situ TEM”，是關于電化學與透射電鏡TEM結合的原位測試技術，在電池、燃料電池催化研究、腐蝕領域的應用介紹。

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美國Gamry電化學致力于為用戶提供專業(yè)的技術服務，其技術支持團隊由電化學專家與腐蝕科學家組成，可以深入討論產(chǎn)品應用，協(xié)助進行數(shù)據(jù)分析，以及提供Gamry儀器的使用建議等等。Gamry舉辦的培訓在美國有著悠久的歷史，2019年6月已經(jīng)舉辦了第23屆腐蝕培訓（美國·賓州州立大學），11月舉辦了第31屆電化學阻抗培訓（美國·費城）。