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顯微分光厚膜儀 OPTM價格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號：OPTM
- 產地：亞洲 日本
Otsuka 顯微分光厚膜儀可以用于測量目標膜的絕對反射率，高精度測量膜厚和光學常數。廣泛應用于醫藥、食品、化工、半導體、材料科學以及電子行業。 顯微分光厚膜儀產品的主要特點：厚膜測量的主要功能...
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界達電位/粒徑測量儀 ELSZ-2000價格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號：ELSZ-2000
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Otsuka 界達電位/粒徑測量儀ELSZ-2000可以用于測量稀溶液到濃溶液的界達電位、粒徑及分子量。 Otsuka 界達電位/粒徑測量儀ELSZ-2000適用于界面化學、無機物、半導體、高分...
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