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上海納騰儀器有限公司
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儀企號
上海納騰儀器有限公司
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- 品牌：美國KLA
- 型號：Alpha-Step? D-500
- 產地：美洲 美國
Alpha-Step? D-500 是最新一代 Alpha-Step 探針式輪廓儀。創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率、較大的高度測量范圍和精準的微力控制。
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KLA單點膜厚測量儀F20價格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：F20
- 產地：美洲 美國
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KLA全自動膜厚測試儀F60價格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：F60
- 產地：美洲 美國
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KLA白光共聚焦顯微鏡輪廓儀ZETA-20價格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：ZETA-20
- 產地：美洲 美國
非接觸式優點就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護了測量裝置，同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。 Zeta-20三維光學輪廓儀集成了六種光學計量技術。 ZDot 測量模式同時采集...
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KLA晶圓探針式輪廓儀/臺階儀P-7價格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：P-7
- 產地：美洲 美國
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- 品牌：美國KLA
- 型號：D-600
- 產地：美洲 美國
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KLA高精度臺式納米壓痕儀iNano價格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：iNano
- 產地：美洲 美國
iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶友好的納米機械測量系統，設計用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統旨在進行準確，可重復的納米級機械測試，包括壓痕，硬度，劃痕和通用納米級測試。iNano具有很...
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kla 白光干涉儀三位輪廓儀Profilm 3D價格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：Profilm 3D
- 產地：美洲 美國
Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術的經濟三維光學輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。 我司有此機器可測樣。
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KLA R-50方阻測試儀價格：面議- 品牌：美國KLA
- 型號：R50
- 產地：美洲 美國
Filmetrics R50 是KLA電阻測試家族的Z新產品。R50方阻測試儀是KLA超45年電阻測量技術地位之作。電阻測量和監控對于任何使用導電薄膜的行業都至關重要，從半導體制造到可穿戴技術所需的柔...
美國KLA
KLA-Tencor成立于1975年，位于美國加利福尼亞州的米爾皮塔斯，致力于半導體（芯片）設備領域的探索。產品主要有芯片缺陷檢測儀、芯片量測儀、實時等離子蝕刻晶圓溫度測量系統、套刻量測系統、表面輪廓儀、納米機械測試儀、芯片封裝設備等，產品廣泛應用于半導體產品研發、設計、制造、檢測等領域。
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