
- 2025-01-21 09:33:16顯微鏡熱臺
- 顯微鏡熱臺是一種用于在顯微鏡下對樣品進行加熱和觀察的裝置。其基本原理是通過加熱元件將樣品加熱至所需溫度,同時利用顯微鏡觀察樣品的微觀結構和變化。顯微鏡熱臺廣泛應用于材料科學、生物學等領域,如研究材料的熱穩定性、觀察生物樣品的熱反應等。其優勢在于能夠在微觀尺度上實時觀察樣品的熱效應,為科研和實驗提供有力支持。
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- 顯微鏡熱臺-高精度,智能可編程,動態加熱
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顯微鏡熱臺問答
- 2018-11-09 18:11:25顯微熔點儀與顯微鏡熱臺有什么區別
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- 2022-09-27 11:51:45偏光顯微鏡+熱臺有何應用?
- 偏光顯微鏡+熱臺有何應用?偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的必備儀器。它在醫學上有廣泛的用途,如觀察齒、骨、頭發及活細胞等等的結晶內含物,神經纖維、動物肌肉、植物纖維等的結構細節,分析病變過程。 它也可以觀察無機化學中各種鹽類的結晶狀況。 熱臺主要指一種用于對試樣施加溫度的精密儀器。并通過光學顯微鏡等其它儀器對樣品觀察或測試。用于顯微鏡下對樣品加熱的熱臺通稱為顯微鏡熱臺。它是地質、礦產、冶金、石油等部門和相關高校的高分子等專業最常用的專業實驗儀器。 偏光顯微鏡+加上熱臺系統可供廣大用戶通過偏光來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化,也可以判斷熔點,溶劑化物,晶體與非晶等應用...... 廣州微域光學儀器有限公司供應的熱臺偏光顯微鏡型號:MXP6000-X4-E3ISP20000KPA參數配置:型號MXP6000-X4-E3ISP20000KPA目鏡大視野 WF10X(視場數Φ22mm)物鏡無限遠長工作距離平場偏光物鏡偏光POL PL L5X/0.12偏光POL PL L10X/0.25偏光POL PL L20X/0.40偏光POL PL L50X/0.60目鏡筒三目鏡,傾斜30?,(內置檢偏振片,可進行切換)落射照明系統高亮超長壽命LED,亮度可調內置視場光闌、孔徑光闌、濾色片轉換裝置,推拉式檢偏器與起偏器調焦機構粗微動同軸調焦, 微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置轉換器 四孔孔(內向式滾珠內定位)載物臺機械移動式(尺寸:210mmX140mm,移動范圍:75mmX50mm) 透射照明系統阿貝聚光鏡 NA.1.25 可上下升降集光器,鹵素燈照明適用(內置視場光欄)高亮超長壽命LED,亮度可調熱臺溫控范圍從室溫-300°C;精度≤±0.2%°C加熱板尺寸Φ110mm,加溫區域Φ32mm模糊邏輯PID全電子固態模塊,PTC發熱材料相機芯片SONY 20M/IMX183(C) 1" USB3.0接口,2000萬像素,成像接收面積1’’全畫幅像素大小:2.4umX2.4um FPS:15@5440x3648;50 @2736x1824;60@1824x1216軟件Weiscope Wimage多功能版圖像處理軟件 版本X64,5.0 兼容WINXPSP3/7/8/10/VISTA/MAC圖像拍照/圖像定時自拍/視頻錄制/黑白平衡/翻轉旋轉/ROI/直方圖/平場暗場校正/幾何測量自動尋邊/多圖實時拼接/景深實時融合/Execel報告輸出/測量數據保存再編輯/自動計數/手動分割/結果輸出/圖像自動計數方式選擇:分水嶺/亮暗/直方圖/顏色分割電腦/選配21”HDMI高清屏幕,固態硬盤,獨立顯卡,USB3.0數據接口,HDMI信號接口實例拍攝樣品室溫狀態加熱融化過程加熱過程中晶體逐漸析出熔點態恒溫觀測自動計數計數結果及excel導出
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- 2023-07-08 15:43:536英寸高低溫熱臺材料熱處理熱性能測試
- 本產品為6英寸高低溫熱臺,能夠在高溫400度和低溫-120度的環境中工作。它是一種用于實驗室、研究及工業生產過程中進行精確溫度控制的設備,廣泛應用于各類材料的熱處理、熱性能測試、化學反應、生物樣品處理等方面。本產品具有溫度范圍廣、控溫精度高、操作簡便及使用安全等特點,是實驗室及工業領域非常理想的高低溫熱臺設備。產品用途:1. 材料熱處理:廣泛應用于金屬、陶瓷、塑料、粉末、納米材料等領域的熱處理、退火、焊接和熔化等工藝過程。2. 熱性能測試:可用于材料的導熱系數、熱膨脹系數、比熱容等熱物性參數的測量和分析。3. 化學反應:可提供低溫或高溫環境,以達到促進化學反應平衡、提高反應速率、減少副反應等目的。4. 生物樣品處理:可在低溫條件下保持或處理生物樣品,以維持其活性、降低降解速度等。5. 制冷與制熱:可提供高效的熱交換方式,實現物品的快速制冷或制熱,以滿足各種工程及科研應用需求。 產品介紹: 1. 溫度范圍:6英寸高低溫熱臺能夠在-120℃至400℃的溫度范圍內提供精確、穩定的溫度控制。 2. 溫度控制:采用高精度微處理器PID控制器,具備30段溫度設定、實時曲線顯示、確保溫度控制的精確性和穩定性。 3. 加熱系統:采用優質電熱元件及導熱介質,實現均勻、快速的加熱,確保熱臺與物品間的良好熱接觸。 4. 冷卻系統:采用液氮流量控制,提供高效的制冷效果;同時具備PID調節系統,實現低溫控制的穩定性。 5. 結構設計:6英寸高低溫熱臺采用優質不銹鋼制作表面研磨平整,具備良好的耐腐蝕、抗氧化性能,適應各種惡劣環境。 6. 安全保護:設備具有過熱保護、過流保護、缺相保護等多重安全措施,確保設備安全穩定運行。
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- 2024-10-25 10:09:49搖擺臺振動臺區別
- 在工業測試、質量控制及科研領域,搖擺臺和振動臺是常見的設備,兩者在性能和應用領域上存在明顯的區別。了解這兩種設備的特點和差異,對于選擇合適的測試工具至關重要。本文將從結構、工作原理、應用場景及功能特點等方面詳細分析搖擺臺與振動臺的區別,幫助讀者根據實際需求作出合理的決策。1. 結構與工作原理搖擺臺和振動臺在結構設計上有顯著差異。搖擺臺通常由底座、支撐系統和擺動機構組成,通過模擬水平或傾斜方向的搖擺運動來測試物體在不同姿態下的穩定性。它采用機械臂或旋轉軸控制角度的變化,多用于測試和動平衡實驗。振動臺則側重于頻率和加速度的模擬,由振動系統、傳感器及控制單元構成。通過電磁或液壓驅動,振動臺可以精確地模擬線性或非線性的振動波形,以評估產品在運輸或使用過程中抵抗振動的能力。其輸出參數包括頻率、幅度和加速度,這些變量能夠靈活調節,以滿足不同的測試標準。2. 應用領域搖擺臺主要用于測試、傾覆實驗和模擬傾斜狀態下的物體穩定性評估。常見于電梯制造、家電行業及某些工業機械的傾角檢測。例如,在洗衣機出廠前,搖擺臺可以用來檢測其滾筒的平衡性,確保設備在工作時不會發生異常晃動。相對而言,振動臺的應用范圍更加廣泛,涵蓋了航空航天、汽車制造、電子產品及運輸業等多個領域。在電子設備的研發過程中,振動臺用于檢測電路板、元器件在振動條件下的性能可靠性,避免因振動造成的焊點松動或接觸不良。在物流行業中,振動臺可以模擬運輸中的顛簸情況,驗證包裝設計是否能有效保護產品。3. 功能特點的區別在功能特點上,搖擺臺更強調角度變化與動態平衡。通過調節擺動幅度和頻率,它能夠檢測物體的穩定性及傾覆風險,尤其適用于對設備的靜態或慢速動態性能的測試。振動臺的優勢則在于高頻率和精確振動模擬。它能產生從低頻到高頻的不同振動波形,用于考核產品的抗振性能和耐久性。這對于需要通過嚴格疲勞測試的產品,如飛機零部件或汽車儀表盤,尤為重要。振動臺的多功能性也體現在可模擬隨機振動和正弦振動的能力上,使其在科研與產品測試中成為關鍵設備。4. 如何選擇合適的設備選擇搖擺臺還是振動臺,需要根據具體的測試需求來判斷。如果測試對象主要關注物體的、平衡性或傾斜角度,則搖擺臺更為合適。它適用于需要模擬擺動場景的設備,如洗衣機、冰箱或電梯的調整。如果測試的目的是評估產品在運輸、使用過程中是否能抵御振動的影響,那么振動臺是更佳的選擇。
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- 2022-12-27 15:23:37熱點應用丨耦合熱冷臺附件實現上轉換發光材料溫度傳感的研究
- 前言許多發光材料的發光特性隨溫度、壓力或化學物質的存在而變化。這種特性在發光傳感器的開發中得到了長期的應用。除了化學傳感外,發光測溫法也是最常用的傳感方法之一。與其他方法不同,它不需要宏觀的探針與探測區域進行物理接觸。這是發光測溫法無可比擬的優勢。例如,可以功能化的發光納米顆粒進入生物靶,熒光顯微鏡可以準確探測不同區域的溫度。這種納米測溫法在醫學領域有很大的潛力,如:對溫度高于平均值的癌細胞進行成像[1]。發光測溫可以根據強度、線寬、光致發光壽命或光譜位移的變化來進行。由于鑭系離子的穩定性和窄光譜特性,很容易識別到這些變化,因此在溫度傳感的應用中經常使用鑭系離子[2]。此外,鑭系摻雜材料呈現上轉換發光性質: 可被近紅外(NIR)光激發,在光譜可見光區發射。近紅外光譜激發減少了生物組織的自吸收和散射,因此遠程激勵變得更加容易。由于這一性質,越來越多的溫度生物成像研究使用無機納米摻雜鑭離子制備上轉換納米顆粒 (UCNPs)[3]。圖1. NaY0.77Yb0.20Er0.03F4上轉換發光機理的結構示意圖,其中紅色和綠色的線代表發射躍遷。灰色的線代表非輻射躍遷。圖1是上轉換熒光粉NaY0.77Yb0.20Er0.03F4發光機理的示意圖。至少需要兩個980nm的光子去激發樣品來產生可見區的發射。除了直接激發Er3+離子外,還存在從激發態Yb3+與Er3+激發態的能量轉移,該材料在可見光光譜的藍色、綠色和紅色區域發光。取決于躍遷過程中Er3+能級的高低。上轉換的測溫法通常集中使用525nm和540nm兩個波長的發射峰,分別對應2H11/2 →4I15/2和4S3/2 → 4I15/2能級躍遷。2H11/2和2H11/2兩個能級在能量上緊密間隔,他們實際處于熱平衡狀態。因此,它們的粒子數比例可以用玻爾茲曼分布來表示:式中,Ni是能級i上的粒子數,Δe是兩個能級間的能量差,k是玻爾茲曼常數,C是簡并常數。基于此,525nm與540nm處熒光強度的比值RHS可用來推出2H11/2與4S3/2的比值,從而能夠計算出樣品的溫度。愛丁堡(Edinburgh Instruments)熒光光譜儀FLS1000通過光纖耦合變溫臺能夠完成該測試項目。此變溫臺不僅能夠保證在FLS1000和顯微鏡下研究的為同一樣品,并且沒有任何中間樣品轉移步驟。本文通過FLS1000熒光光譜儀耦合變溫臺對上轉換樣品NaY0.77Yb0.20Er0.03F4進行不同溫度下上轉換發光的測試。測試方法與樣品測試樣品為NaY0.77Yb0.20Er0.03F4上轉換發光粉末,購置于Sigma Aldrich。將樣品放置于Linkam HFS350EV-PB4冷熱臺里的石英樣品池中。通過光纖將冷熱臺與FLS1000樣品倉相連接。使用穩態光源Xe2 980nm進行激發,激光能量要低,以防止樣品變熱。使用980nm的激光器往往會造成樣品受激光照射而變熱[4]。FLS1000配置:雙單色器,標準檢測器PMT-900。時間分辨的壽命測試使用脈沖氙燈(μF2)作為激發光源,采用MCS模式測試發光壽命。測試結果與討論使用FLS1000的Fluoracle中溫度mapping的測試功能,分別測試從-100℃到80℃每間隔20℃溫度范圍內,樣品上轉換發射的紅光及綠光隨溫度的變化情況。結果如圖2(上轉化綠光)和3(上轉換紅光)所示。圖2 中上轉換綠光發射峰是由于Er3+的2H11/2 →4I15/2和4S3/2 → 4I15/2兩個能級躍遷產生的。4S3/2 → 4I15/2和4F9/2 → 4I15/2對應發射峰的強度隨著溫度升高而降低。但是2H11/2 → 4I15/2對應的譜待變化的稍有不同:在273K以下,隨著溫度的增加其發光強度降低。但當溫度繼續升高時,增長緩慢。圖2. NaY0.77Yb0.20Er0.03F4溫度相關的發射圖譜(綠光部分)。使用耦合Linkam冷熱臺的FLS1000光譜儀進行測試。測試條件:λex=980 nm, Δλex=10 nm, Δλem=10 nm, 步進step=0.10nm, 積分時間=1s/step。內插圖為對應2H11/2→ 4I15/2躍遷的發射范圍的放大圖。圖3. NaY0.77Yb0.20Er0.03F4溫度相關的發射圖譜(紅光部分)。使用耦合Linkam冷熱臺的FLS1000光譜儀進行測試。測試條件:λex=980nm, Δλex=10nm, Δλem=10nm, 步進step=0.10nm, 積分時間=1s/step。圖4. NaY0.77Yb0.20Er0.03F4溫度相關的壽命三維譜圖。使用耦合Linkam冷熱臺的FLS1000光譜儀進行測試。測試2H11/2→ 4I15/2對應的發射。測試條件:λex=980nm, Δλex=15nm, λem=541nm ,Δλem=10nm, 燈源頻率=100Hz, 采集時間:每條衰退曲線采集5分鐘。紅色和藍色曲線分別代表-100℃和40℃下的測試結果。隨著溫度的增加,非輻射弛豫過程降低了整體的上轉換發光過程。有關溫度的猝滅的動力學可以通過圖4所示的溫度相關的三維壽命譜圖來進行研究,當溫度增加時,該樣品的發光壽命從640μs降低至530μs,有明顯下降。回到圖2和圖3,從4S3/2 ,2H11/2 到4F9/2的弛豫過程相對增加了紅色光的發射強度。這可以從圖5(a)的溫度Rrg函數看出。2H11/2 →4I15/2和4S3/2 → 4I15/2的比值,RHS是優異的溫度指數參數(前言已介紹過),圖5(b)是RHS隨溫度的變化圖,圖5(c)是相同數據的對數值。有趣的是,RHS并沒有遵循玻爾茲曼曲線:在高溫下,額外的弛豫過程發生并引發4S3/2 → 4I15/2躍遷的“緩慢增加”。這與之前的報告一致[5,6],證明了上轉換的復雜動力學過程: 4H11/2到 4S3/2的非輻射過程在高溫下變得更為重要,所以粒子數與RHS不相等。應該指出不同溫度下的RHS 很大程度上取決于樣品顆粒的大小[4,6]。為了說明上轉換測溫的概念,將曲線的低溫區域擬合到圖5 (c)所示的直線玻爾茲曼圖中,可以得到熒光測溫系統S的相對靈敏度。這是評價發光溫度計系統的一個有用參數,計算方法如下:圖5的斜率為-ΔE/k, 在20℃的靈敏度為1.0%K-1。這一結果與類似的上轉換測溫系統是一致的。圖5. 上轉換發射帶強度的比值隨溫度變化的函數圖:(a)紅光和綠光的比值(b)2H11/2 →4I15/2和4S3/2 → 4I15/2的比值 (c) 圖(b)的對數數據圖。與玻爾茲曼圖第 一部分的線性擬合如(c)所示。結論NaY0.77Yb0.20Er0.03F4溫度相關上轉換發光強度及壽命均可使用愛丁堡熒光光譜儀FLS1000 耦合Linkam冷熱臺進行測試。2H11/2 →4I15/2和4S3/2 → 4I15/2的比值可作為發光測溫系統中的溫度探針,其靈敏度為1.0%K-1。通過光纖耦合的Linkam冷熱臺附件能夠使用戶在發光測試和顯微鏡下靈活輕松切換,中途不需要樣品轉移步驟。參考文獻[1] C. D. S. Brites, et al., Nanoscale 4, 4799-4829 (2012)[2] M. D. Dramianin, Methods Appl. Fluoresc. 4, 042001 (2016)[3] M. González-Béjar and J. Pérez-Prieto, Methods Appl. Fluoresc. 3, 042002 (2015)[4] S. Zhou, et al., Optics Communications 291, 138-142 (2013)[5] X. Bai, et al., J. Phys. Chem. C 111, 13611-13617 (2007)[6] W. Yu, et al., Dalton Trans. 43, 6139-6147 (2014)
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