- 2025-01-10 17:04:57s-SNOM成像
- s-SNOM成像，即散射式掃描近場光學顯微鏡成像技術，是一種高分辨率的光學成像方法。它利用近場效應，通過探測樣品表面附近的光散射信號，實現對樣品微納結構的成像。s-SNOM成像具有高靈敏度、高分辨率的特點，能夠揭示樣品表面的形貌、化學組成及光學性質等信息。在材料科學、生物醫學、納米技術等領域有廣泛應用，為科研工作者提供了強有力的表征手段。
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