二次離子質譜儀
是用來檢測材料的一種儀器，即是利用離子束把待分析的材料從表面濺射出來，然后再檢測出離子組分并進行質量分析，是對微粒進行同位素分析的有力工具，是利用質譜法分析初級離子入射靶面后，濺射產生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。
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二次離子質譜儀產品列表
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飛行時間二次離子質譜儀
- 品牌：日本Ulvac-Phi
- 型號：PHI nano TOF 3+
- 產地：亞洲 日本
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Hiden 飛行時間二次離子質譜儀 TOF-SIMS
- 品牌：Hiden Analytical
- 型號：TOF-qSIMS
- 產地：歐洲 英國
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飛行時間二次離子質譜儀
- 品牌：英國Kore
- 型號：TOF-SIMS
- 產地：歐洲 英國
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小型二次離子質譜儀
- 品牌：Hiden Analytical
- 型號：
- 產地：歐洲 英國
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飛行時間二次離子質譜儀PHI nanoTOF3
- 品牌：日本Ulvac-Phi
- 型號：TOF-SIMS
- 產地：亞洲 日本
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美國PHI 高性能飛行時間二次離子質譜儀
- 品牌：美國PHI
- 型號：02
- 產地：美洲 美國
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PHI X-tool 飛行時間二次離子質譜儀
- 品牌：美國PHI
- 型號：PHI X-tool
- 產地：美洲 美國
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The J105 SIMS飛行時間二次離子質譜儀
- 品牌：Ionoptika
- 型號：The J105 SIMS
- 產地：美洲 美國
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CAMECA全自動在線二次離子質譜儀AKONIS
- 品牌：法國Cameca
- 型號：AKONIS
- 產地：歐洲 法國
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CAMECA 二次離子質譜儀
- 品牌：Cameca
- 型號：IMS 7f
- 產地：歐洲 法國
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CAMECA 大型二次離子質譜儀
- 品牌：Cameca
- 型號：IMS 1280-HR
- 產地：歐洲 法國
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MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀
- 品牌：SAI
- 型號：MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀
- 產地：歐洲 英國
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SAI MiniSIMS alpha二次離子質譜儀
- 品牌：SAI
- 型號：MiniSIMS alpha
- 產地：歐洲 英國
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飛行時間二次離子質譜
- 品牌：英國Kore
- 型號：TOF-SIMS
- 產地：歐洲 英國
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TESCAN 電鏡質譜 FIB-SEM-TOF-SIMS 聯用系統
- 品牌：泰思肯
- 型號：FIB-SEM-TOF-SIMS
- 產地：歐洲 其它
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TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨鎵離子FIB-SEM
- 品牌：捷克泰思肯
- 型號：TESCAN SOLARIS
- 產地：歐洲 捷克
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布魯克 SIMS Toxtyper? 質譜儀
- 品牌：德國布魯克
- 型號： Toxtyper?
- 產地：歐洲 德國
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￥500000 -
德國IONTOF TOF-SIMS系統
- 品牌：德國IONTOF
- 型號：M6
- 產地：歐洲 德國
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供應商報價
￥1500000
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