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二次離子質(zhì)譜工作站
- 品牌:Hiden Analytical
- 型號: SIMS
- 產(chǎn)地:歐洲 英國
- 供應(yīng)商報價:面議
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北京英格海德分析技術(shù)有限公司
更新時間:2021-12-23 16:54:49
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品等離子體-材料表面(18件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- 整合的離子源,便于RGA和SNMS;
各類型樣品的快速轉(zhuǎn)向;
陰、陽離子、中性粒子、自由基的質(zhì)量、能量分析儀。 詳細(xì)介紹
產(chǎn)品簡介
SIMS 工作站(SIMS Workstation-a complete SIMS Analysis Facility) ,綜合UHV / SIMS 設(shè)備,進(jìn)行高級的表面分析。可靠的、普遍適用的SIMS分析工作站。
功能特點(diǎn)
整合的離子槍光柵控制和信號選通,進(jìn)行深度分析
絕緣體研究中的電子流槍用于電荷中和
液氮冷井和真空室烘烤加熱器
自動的SIMS 離子光學(xué)透鏡調(diào)諧和質(zhì)量數(shù)列表,使SIMS性能**技術(shù)參數(shù)
Hiden EQS SIMS 分析儀,運(yùn)行于 MASsoft O/S 之下,檢測限至ppb級
?基本的激發(fā)源選擇: 帶差式泵的Hiden IG20 Ion,IFG200 FAB或高性能液態(tài)鎵槍
快速樣品傳遞,樣品固定,負(fù)載鎖定的操縱器
4 軸:X, Y, Z, θ UHV 操縱器,以**定位樣品
加上ESM LabVIEW和SIMS 成像程序,進(jìn)行SIMS元素成像
靜態(tài)SIMS譜圖庫可用
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