高精度、 自動和可重復

文化遺產等樣品的跟蹤觀察測試系統

遺產文物樣品的表面往往具有不平整的表面形狀。

ClydeHSI ZM 宏觀位移臺采用低功率、高精度激光測 距儀，測量到樣品和返回的飛行時間。然后，Zm位移 控制器自動調整相機的距離，以補償物體的曲率，并在采集過程中實時進行此操作。這允許在整個樣本中 進行特shu的測量。

可部署在ClydeHSI SC-XY系列和平移系列掃描系統  上，與所有ClydeHSI高光譜相機和軟件包完quan兼容。

同時，激光測距儀用于監測與目標的距離，以確保 正確和自動計算目標光斑大小，并確保每次測量的 輸出像素是正方形的。

ClydeHSI Zm 宏觀位移臺可以在表面曲率高達±75mm的物體上保持目標像素大小和分辨率平均。

主要特點：

• ±75mm動態距離調節

• 高光譜相機的自動對焦

• 自動-方形-像素設備

• 雙攝像頭同步

• 應用于Micro-XRF和拉曼

產品參數：

森泉為您的科研事業添磚加瓦：

激光控制：激光電流源、激光器溫控器、激光器控制、伺服設備與系統等等

探測器：光電探測器、單光子計數器、單光子探測器、CCD、光譜分析系統等等

定位與加工：納米定位系統、微納運動系統、多維位移臺、旋轉臺、微型操作器等等

光源：半導體激光器、固體激光器、單頻激光器、單縱模激光器、窄線寬激光器、光通訊波段激光器、CO2激光器、中紅外激光器、染料激光器、飛秒超快激光器等等

光機械件：用于光路系統搭建的 gao 品 zhi 無應力光機械件，如光學調整架、鏡架、支撐桿、固定底座等等

光學平臺：主動隔振平臺、氣浮隔振臺、實驗桌、剛性工作臺、面包板、隔振、隔磁、隔聲綜合解決方案等等

光學y件：各類晶體、光纖、偏轉鏡、反射鏡、tou射鏡、半透半反鏡、濾光片、衰減片、玻片等等

染料：激光染料、熒光染料、光致變色染料、光致發光染料、吸收染料等等