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ADMS 角分辨光譜測量儀
- 品牌:標旗光電
- 型號: ADMS-NIR ADMS-VIS
- 產地:廣東 廣州
- 供應商報價:面議
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廣州標旗光電科技發展股份有限公司
更新時間:2022-01-07 14:45:43
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
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產品特點
- ◆ 全角度測量:發射端角度范圍0°至180° ,接收端角度范圍0°至360° ,可以實現反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量;
◆ 精確角度控制:高精度電機,角度精度及重復性能優異;
◆ 多光譜測量模式:可以實現上反射、下反射、透射、散射/熒光、輻射等多種光譜測量;
◆ 寬光譜范圍:內置鹵素光源,可實現380~ 1700nm超寬波段光譜測量范圍;
◆ 可編程測量模式:可以通過編程設置不同的角度范圍和步進,來實現自動多角度光譜測量,可批量測試;
◆ 擴展性好:根據客戶的需求,可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的光譜測量;
◆ 多維調節樣品臺:樣品臺由高精度三維位移臺和二維傾斜臺組成,可實現樣品的五維正交調節。
詳細介紹
ADMS 角分辨光譜測量儀
FOMS角分辨光譜儀是一款可變角度的多功能光譜測量儀器,采用智能旋轉設計,自動控制入射與采集角度,可快速實現透過/反射/熒光/散射/輻射等多種光譜測量。適用于光子晶體等納米材料的能帶缺陷特性研究、光學元件的不同角度的透反射測量、LED等發光器件的發光特性研究。
儀器特點:
◆ 全角度測量:發射端角度范圍0°至180° ,接收端角度范圍0°至360° ,可以實現反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量;
◆ 精確角度控制:高精度電機,角度精度及重復性能優異;
◆ 多光譜測量模式:可以實現上反射、下反射、透射、散射/熒光、輻射等多種光譜測量;
◆ 寬光譜范圍:內置鹵素光源,可實現380~ 1700nm超寬波段光譜測量范圍;
◆ 可編程測量模式:可以通過編程設置不同的角度范圍和步進,來實現自動多角度光譜測量,可批量測試;
◆ 擴展性好:根據客戶的需求,可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的光譜測量;
◆ 多維調節樣品臺:樣品臺由高精度三維位移臺和二維傾斜臺組成,可實現樣品的五維正交調節。
應用領域:
光子晶體器件、材料鍍膜、納米光學材料、LED光源、液晶顯示、傳感器器件制備、角度相關材料分析
技術參數:
型號 ADMS-NIR ADMS-VIS 調節維度 x+y/α+β4維 x+y/α+β4維 測量模式 上反射、下反射、透射、散射、輻射、
自由、編程上反射、下反射、透射、散射、輻射、
自由、編程光譜波段 900~1700nm 380~1100nm 入射光錐半角 3.9°,添加光闌后,最小錐角可達1° 3.9°,添加光闌后,最小錐角可達1° 出射光錐半角 3.9°,添加光闌后,最小錐角可達1° 3.9°,添加光闌后,最小錐角可達1° 外臂(入射)范圍 0~180° 0~180° 內臂(出射)范圍 0~360° 0~360° 最小步距角 0.0o12° 0.0012° 角度精度 ±0.05° ±0.05° 功耗 5o W(鹵素燈:9w ) 5o W(鹵素燈:9w ) 計算機控制接口 USB 2.0@480 Mbps USB 2.0@480 Mbps 電源接口 AC 220V,標準電源插口 AC220V,標準電源插口 尺寸(cm) 600*300*420 600*300*420 相關產品