6433P光波元件分析儀 

（調制頻率范圍覆蓋：  10MHz~110GHz）

一、6433P光波元件分析儀概述

       6433P光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調制特性測試的儀器，頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式，6433P光波元件分析儀具有對數/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確測量光電網絡的幅/相頻特性，主要應用于高速電光器件（電光強度調制器、直接調制激光器、光發射組件）、光電器件（探測器、光發射組件、探測器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數的測試。

二、6433P光波元件分析儀產品特點

• 10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋；

• 頻率分辨率1Hz；

• 測試功能豐富，具備傳輸、反射等多種參數測試功能；

• 一體化多功能測試界面；

• 向導式校準及一鍵式快速掃頻測試；

• 多窗口顯示及快速分析；

• 自動夾具移除，快速獲取探針數據；具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集，可實現自動測試

三、6433P光波元件分析儀功能描述

• 10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋

6433P光波元件分析儀調制頻率高達110GHz，頻率分辨率為1Hz，可實現高速寬頻帶光器件及光芯片調制特性測試

• 一體化多功能測試向導界面

6433P光波元件分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測量模式，功能模式之間可任意切換，可滿足光器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。一體化多功能界面方便用戶快速完成測量模式、光波參數、光路去嵌入參數、射頻去嵌入等參數的設置。

• 向導式校準及一鍵式測試

6433P光波元件分析儀進行微波域的電電校準及光波域的光路校準時，采用向導式校準，方便用戶對儀器進行快速校準，獲得被測件準確的測試結果。同時采用一體化集成設計方案，利用核心算法，實現電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測試。

• 多窗口快速顯示及分析

6433P光波元件分析儀支持64個測量通道，32個測量窗口，每個窗口可同時顯示16條測試軌跡，可實現結果的多窗口、多格式顯示。

高分辨率多點觸控電容屏可快速實現各種輸入和選擇操作，快捷高效，便于用戶快速分析數據，為用戶提供全新的光波元件分析儀操作體驗。

• 自動夾具移除，快速獲取探針數據

6433P光波元件分析儀利用自動夾具移除功能可快速解決光芯片S參數測試難題。測試時，將高頻探針等效為夾具，通過自動夾具移除功能測量高頻探針的時域參數，利用信號流圖提取頻域參數，形成s2p文件，進而通過射頻去嵌入，實現光芯片的高精度S參數測試。

四、6433P光波元件分析儀產品參數

五、6433P光波元件分析儀典型應用

• 單端光器件測試

針對電光調制器、直接調制激光器等電光器件的S11參數和S21參數測試，利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性；針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數和S21參數測試，利用光標功能可快速分析3dB帶寬，評估器件的頻響特性；針對光纖濾波器等光光器件的S21參數測試，可快速實現損耗、平坦度等指標的測量。

幅頻特性測試）

利用儀器提供的多種顯示模式,可實現相位、群時延等信息的顯示，可快速實現相頻特性等指標的測量。

（相頻特性測試）

• 平衡光器件測試

光波元件分析儀通過配置四端口機型，實現平衡光發射或光接收器件對差分增益和共模抑 制參數的測試需求，更加貼合現有和未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。

• 光芯片在片測試

6433P光波元件分析儀搭配探針臺及高頻探針，可實現電光/光電芯片的頻響參數的測試。

• 自動化測試

6433P光波元件分析儀提供標準的SCPI程控指令集，方便用戶進行遠程控制。通過網口，只需完成設備的互聯，發送命令即可實現一體化的自動測試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數字源表及被測件等共同搭建光芯片測試系統。