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日本ADVANTEST TAS7400TS太赫茲波采樣平臺
- 品牌:日本ADVANTEST
- 型號: TAS7400TS
- 產地:亞洲 日本
- 供應商報價:面議
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上海五鈴光電科技有限公司
更新時間:2024-02-26 15:22:11
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銷售范圍售全國
入駐年限第6年
營業執照已審核
- 同類產品太赫茲光譜/成像分析平臺(2件)
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產品特點
- 高性價比、多功能、業內ZJ測量精度的太赫茲光譜系統
詳細介紹
產品介紹
系統使用兩個超短脈沖激光器(1.55 μm)做偏置輸出(太赫茲波產生)和信號輸入(太赫茲波探測)。基于Advantest的TAS7500TS高端太赫茲光譜系統,
用各種太赫茲研究和應用
高達1ms的超高速太赫茲光學采樣測量功能
通過光纖連接,可將太赫茲源/探測器模塊和光學元件靈活配置
產品特性
超高速太赫茲光學采樣測量: 1mS /單次掃描 (TAS7500TS)
太赫茲源/探測器模塊和光學元件靈活配置
總長zui大為4米的光程
配置2個不同THz光源和2個探測器模塊(可選)
覆蓋低頻率、標準、寬帶太赫茲波探測器
系統規格雙重復率同步光纖激光器(太赫茲產生和檢測),激光驅動器,同步器,數據校正和分析電腦
激勵激光
測量規格zhong心波長 1550 nm 輸出功率 >20 mW (可選: zui大 50 mW) (*1) 脈沖寬度 <50 fs (使用1.5m光纖) (*1) 重復率 50 MHz 光學輸出口 太赫茲產生:1個端口
太赫茲探測:1個端口總體規格(TAS7500TS) 測量方法 T太赫茲光學采樣方法(相位調制方法) 時間分辨率 2 fs 頻譜分辨率 3.8 GHz 7.6 GHz 61.0 GHz 掃描范圍 262 ps 131 ps 16 ps 處理速度 16 ms/掃描 8 ms/掃描 1 ms/掃描 頻率精度 ±10 GHz (在1.41 THz處) (*1) TAS7400TS 測量方法 太赫茲光學采樣方法(相位調制方法) 時間分辨率 2 fs 頻譜分辨率 1.9 GHz 7.6 GHz 掃描范圍 524 ps 131 ps 處理速度 200 ms/掃描 頻率精度 ±10 GHz (在1.41 THz處)(*1) 分析單元 測量單元 Size 430(W)×540(D)×330(H) mm 420(W)×225(D)×215(H) mm Weight 28kg or less 16kg or less (*1): 在溫度范圍為 23℃ ± 5℃時
太赫茲探測器模塊 TAS1230
多合一太赫茲探測器;光纖尾纖緊湊外殼內包括光電導天線和超半球硅透鏡。
引入1.55μm超短激光脈沖來采樣太赫茲波。
帶寬500 kHz的內置互阻(電流 - 電壓轉換)放大器使測量系統更為簡單。
規格
項目 規格 備注 探測方法 光電導天線 帶寬(SNR=1) >4THz (太赫茲源: TAS1110) 輸入功率: 20 mW
脈寬: 50 fs
>4THz (太赫茲源: TAS1130) 動態范圍(峰值) >60 dB TIA靈敏度 9.7 × 10 V/A TIA帶寬 500 kHz -3 dB 帶寬 輸入光纖連接器 φ3mm 1550nm 保偏光纖 長度: 1.5 m 尺寸 55 mm × 20 mm × 20 mm 沒有光纖尾纖 技術文章