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四點探針系統
- 品牌:Ossila
- 型號: 探針臺
- 產地:歐洲 英國
- 供應商報價:面議
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武漢邁可諾科技有限公司
更新時間:2024-11-06 11:13:13
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銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業執照已審核
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產品特點
- 這款四點探針系統是一款易于使用的工具,用于快速測量材料的薄層電阻,電阻率和電導率。 通過使用我們自己的源測量單元,我們能夠創建一個低成本的系統,使測量范圍更廣泛。 探頭采用彈簧加載接觸,而不是尖銳的針頭,防止損壞精密樣品,如厚度在納米左右的聚合物薄膜。
詳細介紹
特點:
? 廣泛的測量范圍 - 四點探頭能夠提供10 nA-100 mA的電流,并且可以測量低至100μV-10 V的電壓。廣泛的薄層電阻測量范圍,從10mΩ/□到10MΩ/□,可表征多種材料。
? 非破壞性測試 - 設計時考慮到了精密樣品的測量,四點探頭采用鍍金彈簧接觸圓頭, 60克的恒定接觸力,防止探針刺破脆弱的薄膜,同時仍能提供良好的電接觸。
? 節省空間的設計 - 通過垂直堆疊組件,我們能夠將四點探頭的占地面積降至zui低(總臺面面積12 cm x 30 cm),甚至可以在缺乏貨架空間的實驗室中使用。
? 易于使用 - 只需插入系統,安裝軟件,即可開始使用! 直觀的界面和清潔的設計,簡化了薄膜電阻的測量。
? 快速材料表征 - PC軟件可執行薄膜電阻,電阻率和電導率所有必要的測量和計算,從而使材料表征變得毫不費力。
? 要忘記保存您的實驗數據 - 用于測量的設置會與數據一起保存,從而輕松查看實驗的詳細信息。 此外,這些設置文件可以通過相同的軟件加載,加快重復測量和材料表征。 用更少的時間重復測量,您的研究成果可以顯著增加。
技術參數:
電壓范圍
100μV至10 V
當前范圍
10 nA到100 mA
薄層電阻范圍
10mΩ/□至10MΩ/□
測量精度
< ±4%
測量精度
±0.5%
探針間距
1.27毫米
矩形樣本大小范圍
長邊zui小值:4毫米
短邊zui大值:60毫米
圓形樣品尺寸范圍(直徑)
4毫米到76.2毫米
zui大樣品厚度
5毫米
總體尺寸
寬度:120毫米
高度:100毫米
深度:300毫米
支持的操作系統
Windows Vista,7,8和10(64位)
zui小顯示器分辨率
1440 x 900
建議的監視器分辨
1920 x 1080
所需的硬盤空間
400 MB