Hysitron PI 89 掃描電鏡聯用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的非凡成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統搭載 Bruker 領先的電容傳感技術，繼承了引領市場的第一批商業化原位 SEM 納米力學平臺的優良功能。該系統可實現包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態測試和力學性能成像等功能。

通過一個線性編碼器和兩種帶編碼器的旋轉/傾斜臺配置實現可靠的和可重復的準確樣品定位、性質成像、原位FIB加工和包括EBSD, EDS, BSE, and TKD在內的分析成像。