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USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀
- 品牌：日本奧林巴斯
- 型號： USPM-RU-W
- 產地：亞洲 日本
- 供應商報價：面議
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儀景通光學科技（上海）有限公司
更新時間：2022-03-25 14:00:03 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
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詳細介紹
從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現大范圍波長區域中的分光測定
奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率，因此最適用于光學元件與微小的電子部件等產品。
近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W：規格 反射率測定 透過率測定*1 45度反射測定*1 名稱 近紅外顯微分光測定儀 近紅外顯微分光測定儀用
透過測定選配件近紅外顯微分光測定儀用
45度反射測定選配件型號 USPM-RU-W 測定波長 380～1050nm 測定方法 對參照樣品的比較測定 對100%基準的透過率測定 對參照樣品的比較測定 測定范圍 參照下列對物鏡的規格 約2.0mm 測定
再現性（3σ）*2反射率測定 使用10×、20×物鏡時 ±0.02[%]以下（430-1010nm）、
±0.2[%]以下（上述以外）±1.25[%]以下（430-1010nm）、
±5.0[%]以下（左側記載除外）使用40×物鏡時 ±0.05[%]以下（430-950nm）、
±0.5[%]以下（上述以外）厚膜測定 ±1% - 波長顯示分解能 1nm 照明附件 專用鹵素燈光源 JC12V 55W（平均壽命700h） 位移受臺 承載面尺寸：200(W)×200(D)mm
承重：3 kg
工作范圍：(XY) ±40mm, (Z)125mm傾斜受臺 － 承載面尺寸： 140(W)×140(D)mm
承重： 1 kg
工作范圍：(XT) ±1°, (YT) ±1°裝置質量 主體：約26 kg（PC除外） 主體：約31 kg（PC除外）*3 控制電源箱：約6.7kg 裝置尺寸 主體部位：360(W)×446(D)×606(H)mm 主體部位：360(W)×631(D)×606(H)mm 控制電源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm 電源規格 輸入規格：100-240V (110VA) 50/60Hz 使用環境 水平無振動的場所
溫度：15～30℃
濕度：15～60％RH（無結露）*1 選件組件 *2 本社測定條件下的測定 *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。
對物鏡 型號 USPM-OBL10 USPM-OBL20 USPM-OBL40 倍率 10x 20x 40x NA 0.12 0.24 0.24 測定范圍*4 70μm 34μm 17μm 工作距離 14.3mm 4.2mm 2.2mm 樣品的曲率半徑 ±5mm～ ±1mm～ ±1mm～ *4 點徑
實的測定功能
使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。
測定反射率
測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。
反射率測定光路圖
反射率測定例：鏡片
反射率測定例：鏡片周邊部位測定膜厚
膜厚測定的圖例活用反射率數據，測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。 測定物體顏色
物體色的測定圖例根據反射率數據顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關數值。 測定透過率 (選配)
從受臺下部透過2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。
透過率測定光路圖測定入射角為45度的反射率（選配）
從側面向45度面反射2mm的平行光，測定其反射率。
45度反射率測定光路圖域的高精度&高速測定
實現高速測定
光學系圖使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現高速測定。 最適用于測定細小部件、鏡片的反射率
反射率測定圖例新設計了可以在17~70μm的測定區域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現再現性很高的測定。 測定反射率時，不需要背面防反射處理
消除背面反射光的原理將專用物鏡與環形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定最薄0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時，在本公司的測定條件下進行測定。 可選擇的膜厚測定方法
根據測定的分光反射率數據進行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據用途選擇**的測定方法。
峰谷法
峰谷法膜厚解析經過信息圖例這是一種根據測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法，對于測定單層膜是有效的。不需要復雜的設置，可以簡單地求出。 傅里葉轉換法
傅里葉轉換法膜厚解析經過信息圖例這是一種根據測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低谷等時，可以幾乎不受噪音的影響進行解析。 曲線調整法
曲線調整法膜厚解析經過信息圖例這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據某種膜構造計算的反射率的差達到最小的構造計算出膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進行不會出現峰值及低谷的薄膜解析。 多樣化應用
高速、高精度地應對多樣化測定需求。
通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。
數碼相機鏡片
投影儀鏡片
光讀取頭鏡片
眼鏡片適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。
LED包裝
半導體基板適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。
液晶彩色濾鏡
光學薄膜適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產生的反射率測定。
棱鏡
反射鏡
滬公網安備 31011502008050號