HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機

技 術 參 數(shù)配 置 ：

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 完全符合以上標準。

外形尺寸：L670 X W380 X H220

器重量：70kg

：AC220V±5

%功 率：35W

速度：曲 扭曲30r/min及0.5Hz周期：1~9999次 扭曲度 ：±15°±1° 向d=86 mm正反向各15°，

總扭曲角度30°

長邊最大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)長邊最小位移量為2mm±0.50mm，短邊最大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)長邊最小位移量為1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸完全按照國家標準執(zhí)行。

1、 IC卡動態(tài)彎扭試驗機主機一臺；

2、配置：1）常用調試工具一套：2）臺灣STK交流調速電機系統(tǒng)一套；3）臺灣衡翼高精度齒輪減速系統(tǒng)一套；4）高精度光電計數(shù)器一套4）臺灣衡翼高精度計數(shù)系統(tǒng)一套；3、產(chǎn)品用途： 用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。