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精密溫控型多功能LIV光譜功率積分測試系統
- 品牌:深圳萊森光學
- 型號: LS-VCS-SCI-LIV
- 產地:廣東 深圳
- 供應商報價:面議
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萊森光學(深圳)有限公司
更新時間:2023-07-13 17:56:30
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銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業執照已審核
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產品特點
- VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser,垂直共振腔表面放射激光)技術目前在在人臉識別、3D感測、汽車自動駕駛、手勢偵測和VR(虛擬現實)/AR(增強現實)/MR(混合現實等應用領域越來越受到關注,萊森光學?可以為客戶提供VCSELVCSEL-3D SENSING/TOF檢測解決方案:LIV光譜/功率積分測試、NF近場特性測試、FF遠場特性測試、BRDF/BTDF光學材料AR/VR特性測試、VCSEL專用積分球,實現對VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測量、光譜波長及功率測量、近場遠場測量等各種定制化應用需求。
詳細介紹
VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser,垂直共振腔表面放射激光)技術目前在在人臉識別、3D感測、汽車自動駕駛、手勢偵測和VR(虛擬現實)/AR(增強現實)/MR(混合現實等應用領域越來越受到關注,萊森光學?可以為客戶提供VCSELVCSEL-3D SENSING/TOF檢測解決方案:LIV光譜/功率積分測試、NF近場特性測試、FF遠場特性測試、BRDF/BTDF光學材料AR/VR特性測試、VCSEL專用積分球,實現對VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測量、光譜波長及功率測量、近場遠場測量等各種定制化應用需求。
LS-VCS-SCI-LIV精密溫控型LIV光譜功率積分測試系統由萊森光學專門針對基于3D-SENSING 脈沖激光LIV光譜測試研發而成,特別適合晶圓和模組封裝用戶在實驗室對VCSEL/LD的研發使用,用于驗證VCSEL/LD各個工藝過程中的光電特性。實現對VCSEL/LD單體、模組、及芯片的LIV、EIV、TIE、PCE、光譜波長及功率測量等。
LS-VCS-SCI-LIV精密溫控型多功能光譜功率積分測試系統專門針對基于3D-SENSING 脈沖激光、脈沖LD/LED測試研發而成,該系統可用于對VCSEL、LD/LED光電特性檢測,以保證VCSEL、LD/LED脈沖激光輻射光譜滿足器件光學功能和IEC-60825-2激光安全-人眼安全應用需求。
主要功能特點
● 強大的專用軟件分析功能,可以掃描測量LIV曲線,PCE曲線,溫度-峰值波長-光功率曲線,可設置掃描精度和速度,可測量光電轉換效率,自動保存測試數據
● 高精度光學分辨率光譜儀光譜范圍400-1100nm可選,光譜分辨率0.1nm,實現光譜峰值波長和半高全寬(FWHM)測量,最快可實現2kHz采樣速率,可掃描測量溫度-峰值波長-功率曲線等
● 手動或全自動探針平臺,可實現對晶圓或模組的自動化LIV光譜功率測試
● 可對樣品精確控溫,可設置掃描步長,可實現高速同步觸發,可預設/自定義測量
● 多線程聯用(大功率高精度電流源、高精度高速數字萬用表、多通道同步數字萬用表、功率探頭、光譜儀、溫度控制器等),可以實現光譜、功率、電流、溫度等參數的程序化、自動化掃描測量
● 一體化工控機箱,高分辨液晶顯示,自動化集成化操作軟件
● 采用四線測量方法,實時記錄實測電流、電壓值,功率值,測試更準確
● 程序可設置連續及脈沖掃描兩種模式
● 壽命老化檢測功能:在恒定或脈沖條件下(電流、溫度),每隔指定時間間隔測試記錄一次光譜和功率數據
LIV測試軟件界面
VCSEL光譜隨電流的變化
LIV、I-V、I-L 掃描曲線
溫度、峰值波長、光功率掃描曲線
主要技術指標
型號
LS-VCS-SCI-LIV光譜功率積分測試系統
功率測量范圍
≤50W(更大功率可定制)
光譜范圍
400-1100nm
光譜分辨率
0.1nm(823-998nm)
積分球
2吋/4吋/6吋
溫度范圍
5℃-85℃
控溫精度
±1℃
電流源輸出范圍(脈沖電流)
0-10A(更大范圍可選:0-50A)
電流源精度
0.05%
電流可編程脈寬
100μs
電流精度
±0.07%+0.2nA
電流分辨率
10pA
三維位移臺
X、Y、Z可調
探針臺
選配
斜率(W/A)
Yes
閾值電流(mA)
Yes
內阻(Ω)
Yes
尺寸/重量
37×52×41cm,25kg
技術文章