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高低溫沖擊試驗(yàn)箱上海伯東代理ATS-545
- 品牌:美國(guó)inTEST- Temptronic
- 型號(hào): ATS-545-M-7
- 產(chǎn)地:美洲 美國(guó)
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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伯東企業(yè)(上海)有限公司
更新時(shí)間:2024-07-17 15:03:36
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銷售范圍售全國(guó)
入駐年限第10年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品美國(guó) inTEST 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)(17件)
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- 高低溫沖擊試驗(yàn)箱上海伯東代理ATS-545 核心參數(shù)
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 溫度范圍 -75°C 至 +225°C;ZL ESD 防靜電保護(hù)設(shè)計(jì),不需要液態(tài)氮?dú)猓↙N2)或液態(tài)二氧化碳(LCO2)冷卻。ATS-545-M 是舊款高低溫測(cè)試機(jī) Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升級(jí)款!inTEST Temptronic 超高速高低溫測(cè)試機(jī)適用于電子元件、集成電路 IC、PCB 電路板的高低溫測(cè)試。
詳細(xì)介紹
價(jià)格電議!!!
inTEST ATS-545-M ThermoStream 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)
上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)ZG總代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 溫度范圍 -75°C 至 +225°C;ZG ESD 防靜電保護(hù)設(shè)計(jì),不需要液態(tài)氮?dú)猓↙N2)或液態(tài)二氧化碳(LCO2)冷卻。ATS-545-M 是舊款高低溫測(cè)試機(jī) Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升級(jí)款!inTEST Temptronic 超高速高低溫測(cè)試機(jī)適用于電子元件、集成電路 IC、PCB 電路板的高低溫測(cè)試。
Temptronic ThermoStream ATS-545-M 技術(shù)參數(shù):型號(hào)
溫度范圍 °C
* 變溫速率
輸出氣流量
溫度
精度溫度顯示
分辨率溫度
傳感器ATS-545-M
-75 至 + 225(50 HZ)
-80 至 + 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷卻-55至 +125°C
約 10 S 或更少
+125至 -55°C
約 10 S 或更少4 至 18 scfm
1.9至 8.5 l/s±1℃
通過美國(guó)NIST 校準(zhǔn)±0.1℃
T或K型
熱電偶* 一般測(cè)試環(huán)境下;變溫速率可調(diào)節(jié)
inTEST Temptronic 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)功能特點(diǎn):
與友廠對(duì)比,inTEST ThermoStream 獨(dú)有的ZG自動(dòng)復(fù)疊式制冷系統(tǒng)(auto cascade refrigeration)保證低溫,內(nèi)置 AC 交流壓縮機(jī),冷凍機(jī)(Chiller)特殊設(shè)計(jì),制冷劑不含氟利昂、安全無毒、不易燃,有效保護(hù)環(huán)境;ZG ESD 防靜電保護(hù)設(shè)計(jì)
旋鈕式控制面板,支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。
過熱溫度保護(hù):出廠設(shè)置溫度 +230°C
加熱模式下,冷凍機(jī)可切換成待機(jī)模式,以減少電力消耗
干燥氣流持續(xù)吹掃測(cè)試表面,防止水氣凝結(jié)
與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱、溫濕度測(cè)試箱對(duì)比,inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)主要優(yōu)勢(shì):
1、變溫速率更快
2、溫控精度:±1℃
3、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度,可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4、針對(duì)PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊),可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件
5、對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)load board上的IC進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊;傳統(tǒng)高低溫箱無法針對(duì)此類測(cè)試。
6、對(duì)整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。
inTEST 高低溫測(cè)試方法:提供兩種檢測(cè)模式 Air Mode 和 DUT Mode
通過熱流罩或測(cè)試腔將被測(cè) IC 與周邊環(huán)境隔離,然后對(duì) IC 循環(huán)噴射冷熱氣流,使IC 溫度短時(shí)間發(fā)生急劇變化,從而完成溫度循環(huán)和溫度沖擊的測(cè)試。
inTEST 高低溫沖擊測(cè)試機(jī) ATS-545-M 尺寸
寬61x深72.4 x高 108 cm
重量 365 kg
手臂延展大 160 cm
標(biāo)準(zhǔn)高操作高度 130.3 cm;(可選188 cm)
標(biāo)準(zhǔn)低操作高度 69.1 cm;(可選81.3 cm)
噪音 < 65 dBA若您需要進(jìn)一步的了解詳細(xì)信息或討論, 請(qǐng)參考以下聯(lián)絡(luò)方式:
上海伯東: 羅先生 臺(tái)灣伯東: 王女士
T: +86-21-5046-1322 T: +886-3-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490 F: +886-3-567-0049
M: +86 152-0195-1076 M: +886-939-653-958
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最高溫度 | +225°C | 最低溫度 | -75°C 至 |
穩(wěn)定性 | 良好 |
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