-
-
200-1050nm高速CCD光譜儀
- 品牌:Ekspla
- 型號: SM245
- 產地:美洲 美國
- 供應商報價:¥100000
-
上海尖豐光電技術有限公司
-
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照
- 同類產品
立即掃碼咨詢
聯系方式:400-822-6768
聯系我們時請說明在儀器網(www.ghhbs.com.cn)上看到的!
掃 碼 分 享
詳細介紹
SM245高速CCD光譜儀
特點:
1、低噪聲和低的雜散光
2、靈活的光學接頭可直接插入狹縫和光纖
3、應用廣泛
4、高速數據采集
5、200-1050nm波長范圍
6、16bit的USB 1.1/2.0界面
7、支持多達8通道配置
8、UV增強涂層
軟件
sm32pro Windows95,2000,XP,7的軟件(支持32bit和64bit)進行數據采集和分析
? Transmission, reflectance, and absorbance measurements
透射、反射和吸收測量
? Data export, zoom in and out, spectrum overlays, and many more features
數據導出、放大、縮小、頻譜重疊,和許多更多的功能
? Color analysis tools included
包含顏色分析工具
? Signal average and integration time control
信號平均和集成時間控制
? DLL libraries available for easy user software development in DOS and Windows
DLL庫便于用戶在DOS和Windows環境下開發軟件
? VC++/VB/Labview examples available
包含VC++、VB和LabVIEW的示例
參數
值
探測器
Sony ILX511 CCD
? 像素值: 2048
? 傳感像素尺寸: 14μm x 200μm
? 靈敏度: 1800 V/(lx s) @ 660nm
? 井深: 62,500 e-
光譜焦距 f#
2.7
暗噪聲有效值
<35 RMS counts in 16bit @35msec integration time
信噪比
>250: 1
光纖耦合
標準SMA905 or FC 接頭
有效光譜范圍
200-1050nm
濾波片選擇
長通濾波片或者覆蓋每個波長的線性可變濾波片
光譜精度
根據選擇的狹縫和光柵0.25到 10nm
雜散光
<0.05% at 632nm (<0.1% Ave)
電腦界面
USB 1.1/2.0 16 bit (0-65535)
最小積分時間
1msec
觸發模式
自由運行模式
軟件觸發模式
外部觸發模式
尺寸(英寸)
6.0 H X 3.3 W X 1.9 D
重量
1 lbs.
軟件
SM32Pro (免費配置)
包含DLL l庫和SDKs便于用戶使用開發SM245高速CCD光譜儀
上海尖豐光電技術有限公司
技術資料