簡(jiǎn)介  

為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn)，Swift開(kāi)發(fā)了一系列完全可定制的原位拉伸試樣臺(tái)。這些拉伸試樣臺(tái)適合多種顯微觀測(cè)系統(tǒng)，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可實(shí)現(xiàn)原位“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學(xué)測(cè)試等多重測(cè)試模式，實(shí)現(xiàn)原位復(fù)合載荷測(cè)試薄膜及細(xì)絲力學(xué)實(shí)驗(yàn)。

Swift原位拉伸試樣臺(tái)也可立使用測(cè)定材料力學(xué)參數(shù)；同時(shí)由于結(jié)構(gòu)緊湊微小、充分考慮了真空兼容性和電磁兼容性，因此可實(shí)現(xiàn)與金相顯微鏡、掃描電鏡、拉曼光譜儀、X射線衍射儀、原子力顯微鏡等顯微成像設(shè)備的兼容，所采用的超低速準(zhǔn)靜態(tài)加載方式有利于在成像儀器下對(duì)載荷作用下材料細(xì)微的變形損傷變化狀況進(jìn)行連續(xù)的可視化原位監(jiān)測(cè)，便于系統(tǒng)深入的研究揭示載荷作用、材料變形損傷機(jī)制與微觀結(jié)構(gòu)變化間的規(guī)律。

應(yīng)用

Swift拉伸試驗(yàn)臺(tái)是通用的，能夠在各種材料上進(jìn)行各種機(jī)械測(cè)試。在靜態(tài)或動(dòng)態(tài)條件下觀察材料表面納米級(jí)微觀形態(tài)和結(jié)構(gòu)變化。通過(guò)實(shí)時(shí)獲取的載荷，形變和溫度等數(shù)據(jù)，并結(jié)合掃描電子顯微鏡提供的材料微觀結(jié)構(gòu)分析數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)了定量分析材料微觀力學(xué)性質(zhì)，相變行為，取向變化，裂紋萌生和擴(kuò)展，材料疲勞和斷裂機(jī)制，材料彎曲機(jī)制，高溫蠕變性，分層，形成滑移面以及脫落等現(xiàn)象。

- 半導(dǎo)體器件，薄膜

- 硬質(zhì)涂層，電鍍層

- 金屬材料，陶瓷材料

- 玻璃，塊體材料

- 復(fù)合材料，聚合物材料

- 電鍍層，釬焊或焊接接頭

- 礦物，木材

- 有機(jī)材料等等

測(cè)試方法

拉伸試樣臺(tái)型號(hào)

Swift開(kāi)發(fā)了一系列基礎(chǔ)拉伸試樣臺(tái)，可以實(shí)現(xiàn)完全定制和增強(qiáng)，以適應(yīng)多種應(yīng)用。

型號(hào) A 傾斜臺(tái)

該模型設(shè)計(jì)了一個(gè)帶有旋轉(zhuǎn)和傾斜工作臺(tái)，測(cè)試樣品可以在任意一個(gè)0°平角或70°EBSD角度。標(biāo)準(zhǔn)加載裝置大加載力5KN,可升級(jí)10kN測(cè)壓元件。樣品臺(tái)行程26mm。

型號(hào)B試驗(yàn)臺(tái)具有較低的外形系數(shù)以適合受限的SEM室，并且可以在0°或70 °EBSD下測(cè)試樣品。負(fù)載范圍可達(dá)5kN。樣品臺(tái)行程可達(dá)26mm。

C型微型拉伸臺(tái)是專門為小型或臺(tái)式SEM開(kāi)發(fā)的，并配置為在0°或70 °EBSD下測(cè)試樣品。負(fù)載范圍高達(dá)2kN。樣品臺(tái)行程可達(dá)16mm。

控制器和軟件

Swift儀器的拉伸臺(tái)采用計(jì)算機(jī)控制的工作流程設(shè)計(jì)，使操作簡(jiǎn)單高效。

控制器

軟件

程序測(cè)試?yán)掏ㄟ^(guò)一個(gè)拖放界面，能夠控制力和溫度。記錄試驗(yàn)荷載、位移和溫度，自動(dòng)計(jì)算應(yīng)力和應(yīng)變。測(cè)試數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出進(jìn)行外部分析。