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無損檢測用X射線平板探測器
- 品牌:日本濱松
- 型號: C7942CA-22
- 產地:亞洲 日本
- 供應商報價:面議
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濱松光子學商貿(中國)有限公司
更新時間:2025-02-24 10:56:46
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
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詳細介紹
無損檢測用X射線平板探測器
C7942CA-22是一款緊湊、重量輕的數字X射線成像傳感器,用于作為無損檢測、生物化學成像和X射線顯微鏡的關鍵器件,可以實時獲取高分辨率、高清晰度的數字X射線圖像。歡迎您登陸濱松ZG全新中文網站http://www.hamamatsu.com.cn/查看該產品更多詳細信息!
特性
- 2400 × 2400 pixels
- 12位數字輸出
- 高速成像:2 frames/s(單次工作)
- 9 frames/s (4 × 4 binning)
- 低噪聲,寬動態范圍詳細參數
感光面積 120 x 120 mm 像素尺寸 50 x 50 μm 總像素個數 2400 x 2400 pixels 閃爍體類型 CsI閃爍體板 視頻輸出接口 RS-422 幀速率(典型值) 2 frames/s 動態范圍(典型值) 2000 X-ray分辨率(典型值) 8 line pairs/mm 測試條件 典型值,Ta=25 ℃ 外形圖(單位:mm)