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EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）

品牌：賽凡
型號： EM12-PV
產地：北京
供應商報價：面議

北京賽凡光電儀器有限公司更新時間：2024-06-04 16:00:14

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業執照

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詳細介紹

EM12是采用先進的測量技術，針對中端精度需求的光伏太陽能電池研發和質量控制領域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。

EM12-PV用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數k。

EM12-PV融合多項量拓科技ZL技術，采用一體化樣品臺技術，兼容測量單晶和多晶太陽電池樣品。一鍵式多線程操作軟件，使得儀器操作簡單安全。

特點：

粗糙絨面納米薄膜的測量

先進的光能量增強技術、低噪聲的探測器件以及高信噪比的微弱信號處理方法，實現了對粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽電池表面納米鍍層的檢測。
次納米量級的高靈敏度和準確度

國際先進的采樣方法、穩定的核心器件、高質量的制造工藝實現并保證了高準確度和穩定性，測量絨面減反膜的厚度精度優于0.2nm。
1.6秒的快速測量

國際水準的儀器設計，在保證極高精度和準確度的同時，可在1.6秒內快速完成一次測量，可滿足快速多點檢測和批量檢測需求。
簡單方便安全的儀器操作

一鍵式操作設計，用戶只需一個按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數據一鍵導出，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高級操作需求。

應用：

EM12-PV適合于光伏領域中端精度要求的工藝研發和生產現場的質量控制。
EM12-PV可用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面上單層減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n，典型納米膜層包括SiNx，ITO，TiO2，SiO2，A12O3，HfO2等，應用領域包括晶體硅太陽電池、薄膜太陽電池等。
EM12-PV也可用于測量光滑平面基底上的單層或雙層納米薄膜，包括膜層的厚度，以及在632.8nm下的折射率n和消光系數k。也可用于測量塊狀材料（包括，液體、金屬、半導體、介質等）在632.8nm下的折射率n和消光系數k。應用領域包括半導體、微電子、平板顯示等。

技術指標：

項目	技術指標
儀器型號	EM12-PV
激光波長	632.8nm (He-Ne Laser)
膜厚測量重復性^（1）	0.2nm (對于平面Si基底上100nm的SiO₂膜層)
膜厚測量重復性^（1）	0.2nm (對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層)
折射率精度^（1）	2x10^-3(對于平面Si基底上100nm的SiO₂膜層)
折射率精度^（1）	2x10^-3(對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層)
單次測量時間	與測量設置相關，典型1.6s
光學結構	PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有極高的準確度）
激光光束直徑	1-2mm
入射角度	40°-90°可手動調節，步進5°
樣品方位調整	一體化樣品臺輕松變換可測量單晶或多晶樣品
	可測量156*156mm電池樣品上每個點
	Z軸高度調節：±6.5mm
	二維俯仰調節：±4°
	樣品對準：光學自準直顯微和望遠對準系統
樣品臺尺寸	平面樣品直徑可達Φ170mm
樣品臺尺寸	兼容125125mm和156156mm的太陽能電池樣品
最大的膜層厚度范圍	粗糙表面樣品：與絨面物理結構及材料性質相關
最大的膜層厚度范圍	光滑平面樣品：透明薄膜可達4um，吸收薄膜與材料性質相關
最大外形尺寸	887 x 332 x 552mm (入射角為90時)
儀器重量（凈重）	25Kg
選配件	水平XY軸調節平移臺
選配件	真空吸附泵
軟件	ETEM軟件：
	中英文界面可選太陽能電池樣品預設項目供快捷操作使用單角度測量/多角度測量操作和數據擬合方便的數據顯示、編輯和輸出豐富的模型和材料數據庫支持