-
-
CAMTEK - 自動晶圓光學(xué)檢測 (WAFER AOI) 系統(tǒng)
- 品牌:以色列Camtek
- 型號: WAFER AOI
- 產(chǎn)地:亞洲 以色列
- 供應(yīng)商報價:面議
-
香港電子器材有限公司
更新時間:2025-04-22 09:34:41
-
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品白動晶圓光學(xué)檢測(Wafer AOI)系統(tǒng)(1件)
立即掃碼咨詢
聯(lián)系方式:021-63813293
聯(lián)系我們時請說明在儀器網(wǎng)(www.ghhbs.com.cn)上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
產(chǎn)品特點
- 整合了 2D 和 3D 檢測和測量于同一平臺內(nèi),保證在高性能下實現(xiàn)極高產(chǎn)能水平。
詳細介紹
產(chǎn)品介紹:
Eagle AP
整合了 2D 和 3D 檢測和測量于同一平臺內(nèi),保證在高性能下實現(xiàn)極高產(chǎn)能水平。
? 凸塊直徑和表面缺陷的檢測。
? RDL 測量和高度的檢測。
? TSV post-via-fill 突出物檢測 (凸起)。
? 2D 檢測:粒子,小裂縫,小劃痕,PM,墨點,污染,污跡等缺陷。
? 2D 量測:Bump,RDL,Pad,UBM,Via 的直徑丶寬度丶長度和位移。
? 3D 量測:Solder,Gold,Lead-free,Pillar,Copper,Micro bumps 和 Nails的高度丶共面性丶以及 PR/PI 厚度和 Via 開口的深度。
? 可編程彩色濾光片與可獨立控制的暗場和亮場的光源系統(tǒng)相結(jié)合,加上精細設(shè)計的算法能取得zui佳缺陷感知靈敏度,并提供zui佳的產(chǎn)能。
? 可選雙臂式機械手臂。
? 優(yōu)秀的多重倍率組合,實現(xiàn)高 TPT 與檢測平衡。
? 根據(jù) Die 內(nèi)不同區(qū)域的檢測要求,智能化分區(qū),并采用不同的算法和參數(shù),實現(xiàn)更精 準的缺陷檢出。
? 在一個掃描周期內(nèi),能連續(xù)運用不同的對焦點,不同的倍率,不同的光照選項,設(shè)定不同的檢測靈敏度和算法引擎,實現(xiàn)高精 準缺陷檢出。
? Tool Matching:允許在不同的機臺上運行同一個工作 (同版本軟件)。
? 可進行在線和離線的工作設(shè)定,交互式自動程序,便於區(qū)域的定義。
Eagle - i
為半導(dǎo)體工業(yè)從研發(fā)到高產(chǎn)量的環(huán)境需求而設(shè)計。
? 2D 檢測:粒子,小裂縫,小劃痕,PM,墨點,污染,污跡等缺陷。
? 2D 量測:Bump,RDL,Pad,UBM,Via 的直徑、寬度、長度和位移。
? 可編程彩色濾光片與可獨立控制的暗場和亮場的光源系統(tǒng)相結(jié)合,加上精細設(shè) 計的算法能取得zui佳缺陷感知靈敏度,并提供zui佳的產(chǎn)能。
? 雙臂式機械手臂。
? 優(yōu)秀的多重倍率組合,實現(xiàn)高 TPT 與檢測平衡。
? 根據(jù) Die 內(nèi)不同區(qū)域的檢測要求,智能化分區(qū),并采用不同的算法和參數(shù),實現(xiàn)更精 準的缺陷檢出。
? 在一個掃描周期內(nèi),能連續(xù)運用不同的對焦點,不同的倍率,不同的光照選項, 設(shè)定不同的檢測靈敏度和算法引擎,實現(xiàn)高精 準缺陷檢出。
? Tool Matching:允許在不同的機臺上運行同一個工作 (同版本軟件)。
? 可進行在線和離線的工作設(shè)定,交互式自動程序,便于區(qū)域的定義。
EagleT Plus
zui新 EagleT Plus 系列 AOI,是為更高速度和更高精確性而設(shè)計,是市場上速度zui快,zui高精度的 2D 檢測設(shè)備之一。EagleT Plus 提供了領(lǐng)先的 2D 檢測能力:
? Genesis 檢測引擎
? 新一代 Camera
? 新一代高端光路系統(tǒng)
? LED 光源
? 基于 CAD 數(shù)據(jù)的 2D 檢測
? 強大的數(shù)據(jù)運算能力
EagleT Plus 為 Fan-Out 應(yīng)用提供先進解決方案:
? 低至 2um 的 RDL 檢測能力
? 可運用于面板的檢測
? 支持高翹曲度晶圓的檢測
產(chǎn)品特點:
?低至0.2μm的表面缺陷檢測能力
?多重放大倍率,調(diào)節(jié)不同檢測需求
?可分區(qū)域,分別編程檢測
?基于CAD數(shù)據(jù)的2D檢測
?單次scan可以運用不同focus高度,不同鏡頭倍率,不同光源,精度和算法。
?
您可能感興趣的產(chǎn)品
-
CAMTEK - 自動晶圓光學(xué)檢測 (WAFER AOI) 系統(tǒng)
-
Camtek - 自動光學(xué)檢測系統(tǒng)
-
自動光學(xué)檢測 (AOI) 系統(tǒng)
-
自動光學(xué)檢測系統(tǒng) (AOI) - Supra Era系列
-
Wafer晶圓傳感器
-
德國Intego裸晶圓AOI光學(xué)缺陷檢測儀
-
德國Intego切割晶圓AOI光學(xué)缺陷檢測儀
-
TC Wafer晶圓硅片測溫?zé)犭娕?熱電偶晶圓測溫系統(tǒng)
-
TC Wafer熱電偶晶圓測溫系統(tǒng) 晶圓硅片測溫?zé)犭娕?光刻機晶圓溫度測量系統(tǒng)
-
智測電子Wafer TC晶圓熱電偶溫度傳感器 晶圓測溫系統(tǒng)
-
晶圓溫度傳感器,TC Wafer熱電偶,晶圓熱電偶溫度傳感器
-
iFocus晶圓檢測系統(tǒng)