美國easyXAFS公司推出臺(tái)式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀，采用獨(dú)有的X射線單色器設(shè)計(jì)，無需同步輻射光源，在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中實(shí)現(xiàn)X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測(cè)量和分析，以超高靈敏度和光源質(zhì)量，實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的測(cè)定、價(jià)態(tài)和配位結(jié)構(gòu)分析等。此外，該設(shè)備還能夠進(jìn)行X射線發(fā)射譜測(cè)試(XES)，該表征本質(zhì)上是超高能量分辨率的X射線熒光光譜(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以對(duì)樣品的局部電子結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)信息互補(bǔ)。廣泛應(yīng)用于電池、催化劑、環(huán)境、放射性化學(xué)、地質(zhì)、陶瓷等研究領(lǐng)域。