產品介紹：

落地式ContourX-1000 白光干涉（WLI）系統集成了Bruker 在硬件和軟件上的最 新技術， 可 用于全自動三維表面紋理和粗糙度測量。全新的一鍵式高級尋找表面 （Advanced Find Surface ?）功能結合自動聚焦和自動照明功能，無需每次測量前手動查找樣品表面，極大提升了用戶體驗且縮短測量時間。結合自適應測量模式 USI 和簡 潔的引導式 VisionXpress ?操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人員，甚至多用戶高負荷的生產設備下都可提供不打折扣的精確測量。

ContourX-1000獨有特點：

• 傾斜 / 俯仰光學頭、雙光源和先進的自動化功能可提供快速、靈活的生產車間內測量。 

• 自校準激光和集成的防震臺可確保極高的測 量準確性和可靠性 。

• 提供的測量和分析軟件帶有簡潔且有引導性的程序和模式，更大程度的方便用戶使用。