-
-
二手 日本電子 JSM-7400F 熱場發射掃描電子顯微鏡 SEM
- 品牌:日本電子
- 型號: JSM-7400F
- 產地:亞洲 日本
- 供應商報價:¥950000
-
上海愛儀通網絡科技有限公司
更新時間:2025-04-18 09:17:11
-
銷售范圍售全國
入駐年限第4年
營業執照已審核
- 同類產品二手光學儀器(40件)
立即掃碼咨詢
聯系方式:18701866315
聯系我們時請說明在儀器網(www.ghhbs.com.cn)上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
詳細介紹
高性能場發射
掃描電子顯微鏡配備了柔和的光束功能,可在1kV或更低的極低加速電壓下實現高分辨率,從而更忠實地觀察樣品表面信息。
r-filter提高了觀察非導電樣品的能力,并配備了一個大樣品室,用于直徑為200mm的樣品。
應用
JSM-7400F的應用
>高角度背散射電子和低角度背散射電子
〉背散射電子
〉鋰電池、催化研究支持:轉移容器
>用SEM觀察淺間山的火山灰
您可能感興趣的產品
-
二手 日本電子 JSM-7400F 熱場發射掃描電子顯微鏡 SEM
-
二手 日本電子 JSM-7401F 熱場發射掃描電子顯微鏡 SEM
-
日本電子 JSM-IT800 熱場發射掃描電子顯微鏡 SEM
-
二手 日本電子 JSM-7610F Plus 超高分辨熱場發射掃描電子顯微鏡SEM
-
日本電子JSM-7800F熱場發射掃描電子顯微鏡
-
日本電子JSM-7610F熱場發射掃描電子顯微鏡
-
日本電子 JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡
-
二手日本電子掃描電鏡SEM,熱場發射
-
二手 日本電子 JSM-7500F 冷場發射掃描電子顯微鏡SEM
-
二手 蔡司 SUPRA 25 熱場發射掃描電子顯微鏡 SEM
-
二手 蔡司 SUPRA 40 熱場發射掃描電子顯微鏡 SEM
-
TESCAN CLARA 熱場發射掃描電子顯微鏡SEM