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理學 XRD Smart Lab SE 多功能X射線衍射儀
- 品牌:日本理學
- 型號: SmartLab SE
- 產地:亞洲 日本
- 供應商報價:¥1700000
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上海愛儀通網絡科技有限公司
更新時間:2025-04-18 09:17:11
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銷售范圍售全國
入駐年限第4年
營業執照已審核
- 同類產品X射線衍射儀(XRD)(34件)
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詳細介紹
儀器介紹:
全新智能X射線衍射儀SmartLab SE系列,是當今世界高性能的多功能的X射線衍射儀,它采用了理學的CBO交叉光學系統、自動識別所有光學組件、樣品臺、智能的測量分析軟件SmartLab Studio II,一臺儀器可以智能進行粉末測試、定量分析、晶粒尺寸、結晶度。
技術參數:
1、X射線發生器功率為3KW
2、測角儀為水平測角儀
3、測角儀zui小步進為1/10000度,高精度測角儀(雙光學編碼、直接軸上定位)
4、測角儀配程序式可變狹縫
5、自動識別所有光學組件、樣品臺
6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路(帶Mirror)
7、小角散射測試組件(SAXS)
8、多用途薄膜測試組件
9、高速一維探測器
10、二維探測器,可以在零維、一維或二維模式間無縫切換
11、全新的SmartLab Studio II 提供了模塊化的衍射功能組件12、自對準光學器件可延長儀器正常運行時間并降低購置成本
主要特點:
智能多功能X射線衍射儀SmartLab SE ,可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。
可以分析的材料包括:金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料
可以分析的材料狀態包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品主要的應用有:
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計算結晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
6. 小角散射與納米材料粒徑分布
7. 微區樣品的分析技術資料
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