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鍍層厚度光譜儀--X熒光方法檢測
- 品牌:上海關河
- 型號: IEDX-150AT
- 產地:上海 松江區
- 供應商報價:面議
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關河儀器設備(上海)有限公司
更新時間:2025-03-26 22:31:44
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銷售范圍售全國
入駐年限第9年
營業執照
- 同類產品X熒光光譜儀(9件)
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產品特點
- 采用非真空樣品腔;
專業用于PCB鍍層厚度,金屬電鍍鍍層分析;
可同時分析鍍層中的合金成分比列。 詳細介紹
采用非真空樣品腔;
專業用于PCB鍍層厚度,金屬電鍍鍍層分析;
可同時分析鍍層中的合金成分比列。
(一)應用領域
金屬電鍍鍍層分析領域(可同時分析鍍層中的合金成分比例)
(二)圖譜界面
1、軟件支持無標樣分析
2、超大分析平臺和樣品腔
3、集成了鍍層界面和合金成分分析界面
4、采用先進的多種光譜擬合分析處理技術
5、分析精度可達到0.01?m
(三)產品優勢
1、可進行鍍層檢測,檢測層數范圍1-6層;
2、平臺移動范圍可達160*160*100mm(X*Y*Z) ;
3、激光定位和自動多點測量功能;
4、可檢測固體、液體、粉末狀態材料;
5、運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低;
6、可進行未知標樣掃描、無標樣定性、半定量分析;
7、操作簡單、jing準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速檢測(5-40秒);
8、極高端配置:SDD探測器、英國牛津X射線管、美國SPELLMAN高壓電源
9、可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件;
10、軟件終身免費升級;
11、無損檢測,一次性購買標樣可使用;
12、使用安心無憂,售后服務響應時間24H以內,提供全方位保姆式服務;
(四)技術指標測量原理:能量色散X射線分析
X射線光管:50KV,1mA
檢測系統:SDD探測器
檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92)
應用程序語言:中/英/韓
平臺移動范圍:160*160*100mm(X*Y*Z)
儀器尺寸:526*637*484mm(X*Y*Z)
樣品類型:液體/固體/粉末
濾光片:Al濾光片自動轉換
能量分辨率:129±5eV
準直器:0.05/0.1/0.2/0.4/0.5/1mm(六個自動轉換)
分析方法:FP/校準曲
IEDX-150AT儀器為自動平臺
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