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分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應(yīng)，實施半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表，電參數(shù)測量多功能數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，廠家直銷、服務(wù)完善！

產(chǎn)品特點
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作          

內(nèi)置強大的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV、PIV

源及測量的準(zhǔn)確度為0.03%

四象限工作（源和肼），源及測量范圍：高至300V，低至3pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導(dǎo)出測試報告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

技術(shù)參數(shù)

電參數(shù)測量多功能數(shù)字源表應(yīng)用

分立器件特性測試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應(yīng)等；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測試系統(tǒng)；
電流傳感器：動靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)；