產(chǎn)品介紹

名稱：探針臺(tái)

型號(hào)：L-8

應(yīng)用：晶圓、芯片、LED測(cè)試、場(chǎng)晶體管、IGBT、分立器件等

測(cè)試類型：IV/CV測(cè)試、RF測(cè)試、光電測(cè)試等

搭配儀器：吉時(shí)利2400系列、4200系列、安捷倫B2900系列、1500系列等

特點(diǎn)：高性價(jià)比探針臺(tái)，滿足手動(dòng)探針臺(tái)的測(cè)試需求，可測(cè)8英寸晶圓，移動(dòng)行程、觀察視野、扎針范圍可覆蓋整個(gè)8英寸晶圓，顯微鏡倍率最可放大至1000X，針座平臺(tái)可升降，可快速抬起探針，可升級(jí)高溫、射頻、光纖測(cè)試