MPA II 是布魯克光譜部門集近 40 年設計和生產 FTIR 和 FT-NIR 光譜儀經驗的結晶，該儀器具有強大的擴展靈活性和優越的性能，為 FT-NIR 分析儀器樹立了新的標準。其高性能的附件和靈活的操作性，成為實驗室和過程分析開發各種方法不可缺少的強有力工具，能夠ZD程度的滿足不同用戶科研和生產 QA/QC 的需求。采用模塊化設計，可以針對每個分析任務進行單獨配置。


ZY的擴展性能

在有特定應用研發需求時，選擇的測量方法很關鍵。MPA II 不僅可用于日常的 QA/QC 工作使用，也可用于復雜方法開發研究。

在最初測量時，通常不能確定哪種測量方式，通過 MPA II，只需嘗試幾種方法并選出結果ZJ的方法即可。

• 液體樣品能夠在樣品腔內用小玻璃瓶或比色皿進行測量，也可以用液體光纖探頭直接插入液體容器中進行測量。

• 散裝混合藥物可用固體光纖探頭進行組分測定，也可裝于小瓶中進行積分球測量。

• 顆粒、粉末、糊狀、膏狀等固體樣品可用積分球或固體漫透射進行測量。

• 加工后的片劑可用固體漫透射和自動進樣器進行分析。

由于 MPA II 是模塊化設計，有多種測量方法可供選擇，能夠輕松根據您的需求做出調整。該儀器結構緊湊、堅固耐用使其適合于在實驗室和工廠中使用。甚至可以置于實用工具車上用于移動應用。

領先的創新技術

MPA II 綜合了當前世界近紅外光譜的前沿技術，具有杰出的性能和穩定性：

• 長壽命光源，增強了產品耐用性，降低了維護成本。

• 經久耐用的固態激光器，可提供ZJ波數精度。

• 準直的RockSolid?ZL干涉儀，采用了三維立體角鏡技術，均為鍍金處理；能夠提供高精度的測試結果，減少故障的發生頻率，確保儀器的穩定性。

• 高靈敏InGaAs檢測器，可以提供全波段的線性響應，保證ZJ精確性和再現性。

MPA II配備的所有光學元件都得到在線診斷系統的監控，確保您的光譜儀正常運轉。一旦有任何元件不符合參數標準，用戶就能立刻收到通知。

便捷的維護措施

MPA II優良的人性化設計使儀器維護方便快捷，大大節省了維護時間和成本。易耗品（如激光管和光源）都設計成長壽命型；但如需更換，系統將會自動提示用戶，并在線提供更換部件的幫助信息。所有易耗品都采用了預準直設計，可在短時間內快速完成更換。

MPA II 通過以太網卡連接，借助局域網或網絡訪問，可實現對儀器的遠程控制和診斷。

10年質保

MPA II FT-NIR光譜儀品質ZY，我們為干涉儀的移動部件和固態激光器提供10年質保。

簡便的操作控制

人性化的工作平臺、簡便化的測量模式和指導，可以幫助用戶在 OPUS 軟件上實現標準分析方法的設定。單擊鼠標或按下觸摸鍵即可開始測量。

在控制面板上，用戶可直接了解儀器的工作狀態和測試是否完成。這些都使得儀器和軟件的操作更加容易，即使未受過培訓的人員也能夠輕松操控 MPA II。

MPA II 為 FT-NIR 光譜法帶來靈活性：可選各種擴展模塊用于不同物態樣品和應用研發。