集成X射線電離功能的通用掃描遷移率粒度儀

適用于8 ? 1200 nm的各種應用

圖1：U-SMPS 2050X / 2100X / 2200X

Palas? 通用掃描遷移率粒徑譜儀（U-SMPS）可提供兩種版本。長分類柱（2050X / 2100X / 2200X 型號）可以確定 8 至 1200 nm 的粒徑分布。該系列已經集成了 X 射線源作為中和器（參見圖 1），代替放射性中和器（例如使用 Kr-85），優點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。Palas?U-SMPS 系統包括一個分類器 [ 在 ISO15900 中定義為電遷移率分級器（DEMC），也稱為微分遷移率分析儀（DMA）]，可根據氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應的氣溶膠顆粒并傳送到出口。然后通過冷凝顆粒計數器（例如 UF-CPC）對這些顆粒進行計數。三種可用的 UF-CPC 型號可在各種濃度范圍內實現ZJ的單顆粒計數。 Palas 使用了由 Wiedensohler 教授（IfTLeipzig，德國）開發的演算算法，將測量數據轉化為 U-SMPS 的顆粒分布。U-SMPS 使用圖形化用戶界面并在觸摸屏上進行操作。一次粒子分布掃描可以在短短 30 秒之內執行，并且每十進制多達 64 個尺寸通道。在掃描期間，DEMC 分類器中的電壓連續變化，從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上設置線性或對數顯示測量值。隨附的評估軟件可提供各種數據評估（各種統計和平均值），以及導出功能。U-SMPS 通常作為獨立設備運行，但也可以連接到計算機或使用各種接口（USB， LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接網絡。 Palas?U-SMPS 支持 DMA，CPC 和其他制造商的氣溶膠靜電計。 U-SMPS 對顆粒物準確的尺寸確定和可靠性能極其重要，尤其是對于校準來說。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試，并且必須內部組裝。 圖 2 給出了U-SMPS 的工作原理：氣溶膠在進入分類器（DEMC）之前先經過調節。 選配的干燥器（例如硅膠，Na?on）可以去除顆粒中的水分。 雙極中和劑（XRC 049）用于確保氣溶膠電荷分布符合預定。 在 DEMC 的入口處需要一個撞擊器以去除大于分類器尺寸范圍的顆粒。

圖 2：掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）的工作原理。氣溶膠通過 DEMC 柱的進樣口導入，沿著外部電極與鞘氣合并。合并過程要避免湍流，確保層流。電極的表面必須極其光滑和JZ。該鞘氣是干燥的、無顆粒的載氣（通常為空氣），比氣溶膠的體積大，且在閉環中連續循環。鞘氣與樣品空氣的體積比決定了傳遞效率，從而決定尺寸分類器的分辨率。在內部和外部電極之間施加電壓產生徑向對稱電場。內電極帶正電，末端有一個小縫隙。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力，帶負電顆粒轉移到正電極。根據它們的電遷移率，一些顆粒會通過頂部小縫隙離開 DEMC。在操作中，電壓產生的電場持續變化，使得不同遷移率的顆粒離開 DEMC，并由納米粒子計數器（例如冷凝粒子計數器）連續測量計數（例如 Palas?UF-CPC）。方便實用的軟件提供多數據信息（如電壓，粒子數等）并取得粒度分布數據，如圖 3 所示。

圖 3：Palas?DNP3000 顆粒發生器產生的氣溶膠的粒徑分布。基于客戶反饋優化過的用戶界面和軟件可以進行直觀的操作、實時控制并顯示測量數據和參數。 此外，通過集成的數據記錄器、完善的導出功能和網絡連接，該軟件可以實現數據管理功能。 測量數據有多種形式顯示和評估。 可用的系統：下面的文檔介紹了 DEMC 和 Palas? 提供的計數器的各種組合。其他制造商提供的大多數 DMA，CPC和氣溶膠靜電計都可以用作 U-SMPS 系統的組件。

優點：

粒徑分布范圍為 8nm 至 1.2μm

連續快速掃描測量原理

高分辨率，最多 128 個尺寸通道 / 十進制適用于ZG 108 顆粒 / cm³ 的濃度

跟其他制造商的 DMA 和納米顆粒計數器通用圖形顯示測量結果

7 英寸觸摸屏和 GUI 直觀操作內置數據記錄儀

支持多種接口和遠程訪問

低維護

功能可靠

減少您的運營費用

應用領域：

過濾測試

氣溶膠研究

環境與氣候研究吸入實驗

室內和工作場所測量

生產廠家：德國Palas