GCSTD-D 高低頻介電常數測試儀

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容

率和介質損耗因數的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質）的交流損耗特性和介電常數

的測試方法

試驗方法：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電極類型：固定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標配電極1套，標配為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電極-根據樣品量可配專用電極

試樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規則物或者不規則物

性能特點：

測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

高達200次／s的測量速度

320x240點陣大型圖形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數組合

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能

V、1測試信號電平監視功能

圖形掃描分析功能

20組內部儀器設定可供儲存／讀取

內建比較器，10檔分選及計數功能

多種通訊接口方便用戶聯機使用

2m／4m測試電纜擴展（選件）

中英文可選操作界面

可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序

測試材料：

無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件

等的陽抗參數評估和性能分析。

半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性

液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性

測試電橋參數 

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

測試頻率 20 Hz～2MHz,10mHz步進 

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） 

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) 

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 

基本準確度 0.1% 

  L 0.0001 uH ～ 9.9999kH 

  C 0.0001 pF ～ 9.9999F 

  R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ 

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S 

  D 0.0001 ～ 9.9999 

  Q 0.0001 ～ 99999 

  θ -179.99°～ 179.99° 

測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準 

等效方式 串聯方式, 并聯方式 

量程方式 自動, 保持 

顯示方式 直讀, Δ, Δ% 

觸發方式 內部, 手動, 外部, 總線 

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進 

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進 

比較器功能 10檔分選及計數功能 

顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示 

存儲器 可保存20組儀器設定值 

  USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) 

  USB HOST(FAT16 and FAT32 support) 

接口 LAN(LXI class C support) 

RS232C 

HANDLER 

隨機配置

序號 項目 數量 備注

1 測試主機 1臺

2 測試數據線 1套

3 固體測試電極 1套

4 液體測試電極 1套 選配件

5 測試系統 1套

6 合格證 1份