直播回顧:徠卡顯微鏡在電子及半導體行業中的應用
掃 碼 分 享
什么是晶圓?
晶圓是指半導體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓,在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結構,而成為有特定電性功能之IC產品
wafer 即為晶圓,由純硅(Si)構成,晶片就是基于這個wafer上生產出來的。
wafer上的一個小塊,就是晶片晶圓體,學名die,封裝后就成為一個顆粒。
晶圓的尺寸?
晶圓的尺寸從Z初的2英寸到4/6/8英寸發展到當前的12英寸
PCB是電子工業的重要部件之一,幾乎每種電子設備,小到電子手表、計算器,大到計算機,通訊電子設備,武器系統,只要有電子元器件,為了它們之間的電氣互連,都要使用印制板。

PCB在線路板制程中的應用:盲孔深度測量;通孔內壁形貌觀察;孔心距;銀線及焊腳觀察;孔邊緣錫大小檢測;常規器件引線焊點的檢驗等。

平板顯示器FPD:玻璃上電極透明的話,從玻璃一側看過去,被擠壓的粒子會發白,會比原尺寸變大。
電極不透明的話,看粒子被擠壓后留在電極上的壓痕,壓痕重的壓合有效。
有塑封時可以撕開FPC,看殘留在銅箔或玻璃電極上的粒子,或者使用帶矯正環物鏡,進行無損檢測。
TFT-LCM 薄膜晶體管液晶顯示模組:ACF壓合以后的檢驗-通常采用金相顯微鏡的微分干涉對壓合后的壓行檢驗—COG

本文回顧了徠卡顯微鏡在電子及半導體行業推出的產品,想必總有一款能滿足您的檢測需求
DVM6 :超景深顯微鏡下的不同世界,帶你領略鏡下之美
產品特點:
DVM6 數字顯微鏡采用了1000物理像素的高分辨率PLANAPO光學鏡頭。
16:1大變焦范圍,可在12:1 到 2350:1 的放大倍率中進行快速切換;
對所有重要參數和設置值的編碼記錄,100%還原之前拍攝效果;
不僅可對樣品進行微觀觀察,還能進行二維三維等JZ的數據測量。
DVM6 數碼顯微鏡可廣泛應用在半導體、紡織、材料科學、YL、新能源、電子等行業。
在半導體行業:主要用于觀察芯片表面劃傷缺陷,同時可以測量凹槽深度
光伏板表面:觀察光伏板截面的涂層分布

銀線表面:觀察銀線表面的缺陷劃痕

導電粒子:觀察導電粒子的分布情況

在電子行業中:可以觀察PCB版上的錫球焊接質量,并且可以測量錫球的直徑和盲孔,
同時也能觀察液晶屏的劃傷,劃痕。
PCBA板:觀察PCBA板上的錫珠

液晶屏film層劃痕:觀察液晶屏劃痕及測量劃痕深度

Leica DM8000M/12000M 大平臺正置材料顯微鏡

Leica DM8000M

Leica DM12000M
優點:
快速可切換UV和OUV對比度
高反差的傾斜模式
全內置LED照明,恒定色溫4000K
高級復消色差光路設計
配合電動掃描臺令精度更高,速度更快
高分辨觀察方法 – 斜照明

了解更多:https://www.leica-microsystems.com.cn/cn/?nlc=20201230-SFDC-011237
全部評論(0條)
推薦閱讀
-
- 網絡直播|掃描電鏡在半導體行業的應用
- 半導體工業由于半導體器件體積小、重量輕、壽命長、功率損耗小、機械性能好,因而適用的范圍極廣。
-
- 直播回顧 | 光學顯微鏡在地質分析中的應用
- 本次課程通過介紹不同類型的徠卡光學顯微鏡在地質行業的應用,幫助您選擇最合適的設備進行分析、研究。
-
- 直播回顧 | 徠卡顯微鏡助力克服金相制樣難點及NMI檢測
- 本講座彭老師介紹了通過使用徠卡金相顯微鏡對于常見的、難度比較大的幾種金屬材料的金相技能的實踐與探索,包括金相組織、劃痕、假象、樣品的表觀質量的評價
-
- 電位滴定儀在半導體行業的應用
- ?半導體行業主要由三部分組成:硅片(Silicon Wafer)生產、集成電路(IC)制造和印刷電路板(PCB)制造。涉及的主要工藝包括酸洗、清洗、蝕刻、光刻、電鍍等。每種工藝都會用到特定組分和濃度的
-
- 直播回顧 丨 iPSC 在細胞治療中的商業化應用
- 2022 年 6 月 25 日,醫麥課堂在線上舉辦,由安捷倫區域應用經理周鑫帶來的主題為“干細胞產品研發策略——從光信號到圖像分析”的線上直播課程,助力中國醫藥產業人才成長。
-
- 講座直播:原子力顯微鏡在半導體領域的應用
- 隨著半導體芯片技術進展, 元器件特征尺寸橫向微縮的同時, 對于元器件縱向維度上的微縮,堆疊與平坦化控制也隨之日趨重要, 相關線上制程監控也越來越重要。
-
- 直播預告:常壓等離子處理和潤濕性分析技術在半導體行業中的應用
- 直播時間:11月27日(周三)上午10:00至11:30\x0d\x0a此次直播內容豐富,歡迎大家踴躍報名參加!?
-
- 直播預告:常壓等離子處理和潤濕性分析技術在半導體行業中的應用
- 直播時間:11月27日(周三)上午10:00至11:30\x0d\x0a此次直播內容豐富,歡迎大家踴躍報名參加!?
版權與免責聲明
①本文由儀器網入駐的作者或注冊的會員撰寫并發布,觀點僅代表作者本人,不代表儀器網立場。若內容侵犯到您的合法權益,請及時告訴,我們立即通知作者,并馬上刪除。
②凡本網注明"來源:儀器網"的所有作品,版權均屬于儀器網,轉載時須經本網同意,并請注明儀器網(www.ghhbs.com.cn)。
③本網轉載并注明來源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點或證實其內容的真實性,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品來源,并自負版權等法律責任。
④若本站內容侵犯到您的合法權益,請及時告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱:hezou_yiqi
參與評論
登錄后參與評論