展會|標旗光電邀您參觀2025慕尼黑上海光博會
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作為亞洲激光、光學、光電行業的年度盛會，慕尼黑上海光博會將于2025年3月11-13日，在上海新國際博覽中心盛大舉辦。
屆時將攜帶系列新型光學元件光譜檢測儀器與解決方案亮相展會，我們的展位號：E7館7729。現誠邀各位新老客戶撥冗蒞臨展位洽談交流，期待您的光臨！
展位號：E7館7729
展位位置示意
系列新型光學元件檢測儀器，主要針對AR/IR片、濾光片、晶圓片、波片、激光雷達、透鏡等各類光學元件的透過率、反射率、相位差等核心參數進行快速無損測量，能大幅提升檢測效率。
?平面光學元件
多角度透/反射率測量
?球面/非球面光學元件
相對/絕對反射率測量
?顯示面板小孔
透過率檢測
?透過率光譜成像分析
?光密度測量
?平面、凸/凹透鏡等
中心厚度快速無損測量
?光學元件多點多角度
透/反射率批量自動測量
?各類光學元件
透過率快速檢測
?光學元件
透過率批量自動檢測
?霧度透過率快速測量
?膜厚快速無損測量
?波片、激光雷達等元件
相位差測量分析
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