網絡講座 2.22 | 偏振X射線熒光光譜技術在學術研究中的應用
01
時間
2月22日 ,周三,14:30 -16:30
2月22日 14:30
02
嘉賓介紹
1
Dirk Wissmann
德國斯派克分析儀器公司
XRF 全 球產品經理
SPECTRO XEPOS ED-XRF
偏振X射線熒光光譜技術
在學術研究中的應用
Dirk Wissmann畢業于德國錫根大學獲得物理學專業。Dirk是德國斯派克分析儀器公司總部全 球XRF儀器的產品經理,負責整個產品線的戰略開發,包括應用開發和產品支持。Dirk在光譜分析方面的經驗始于他在德國錫根大學的物理學研究生工作。在此期間,他專注研究傅里葉變換+電感耦合等離子體發射光譜法應用于UV-Vis譜區內的元素分析。Dirk于1990年加入德國斯派克分析儀公司總部,負責質量控制、培訓、應用開發和市場營銷。
將著重介紹SPECTRO XEPOS硬件組件,這些組件使其在靈活性、靈敏度和精度方面獨樹一幟——而這對尖 端材料研究至關重要。他通過一些實際應用案例展示SPECTRO XEPOS超越傳統ED-XRF性能的能力。
2
曹嘉洌
德國斯派克分析儀器公司
應用經理
X熒光光譜技術的
新進展及應用案例分析
多年從事元素分析的理論和應用研究,對XRF、Spark-OES,ICP等儀器的原理、操作及在各個行業的應用有豐富的經驗。現就職于德國斯派克分析儀器有限公司,應用實驗室負責人,主要負責中國區產品的技術支持及應用方法的開發,在XRF應用方面有超過十年豐富的理論和實踐經驗,多年的從業經驗可為眾多科研及工業用戶提供應用支持和整體解決方案。本次直播,將著重介紹德國斯派克X熒光光譜儀的新進展和新應用。
03
獎品預覽
直播期間會抽取幸運觀眾,獎勵小度音響、不銹鋼杯子、多功能數據線。
04
如何參會
掃描下方二維碼,即可報名參會:
請務必填寫正確的Email和手機號,以確保能正常參會。
05
相關儀器
X射線熒光光譜儀
X射線熒光光譜儀
06
相關應用報告下載
掃描下方二維碼,即可瀏覽、下載相關應用報告。
白皮書:
ED-XRF新技術 新功能“蔚為大觀”
白皮書:
升級到新一代ED-XRF分析儀的五個原因
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