ATA-2048高壓放大器簡介 Introduction

ATA-2048是一款可放大交直流信號的單通道高壓放大器。最大帶寬1MHz，最大輸出400Vp-p電壓，輸入輸出電阻兩檔切換，電壓增益數控可調，設置參數自動保存，還具有程控功能，操作簡潔方便，可與信號發生器配套使用，實現信號的放大。

輸入 Input

輸入為BNC接口，輸入電阻50Ω、10kΩ兩檔可選，匹配高低內阻信號源。

輸出 Output

輸出為香蕉插座，最大輸出電壓400Vp-p(±200Vp)，最大輸出電流80mAp。

液晶顯示

操作面板液晶顯示，設備狀態及參數動態顯示，交互界面一目了然，簡潔易懂。

電壓增益

ATA-2048高壓放大器電壓增益數控0~60倍可調，具體分為粗調（1step）和細調（0.1step）兩種。結合液晶面板增益的顯示，能夠快速調整至需要的電壓值。

監測口 Monitor

10mV/V Monitor：此端口電壓為輸出端口的1/100，監測口為BNC接頭，可以直接連接到示波器進行輸出電壓的實時監測。

10V/A Monitor：監測口電壓為輸出端口電流的10倍，監測口為BNC接頭，可直連示波器進行輸出電流的實時監測。

技術參數：

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9812DX作為單一完整的低頻噪聲測試系統，支持多種半導體器件類型在各種工作條件下（如200V高壓、10pA極低電流等）的高精度噪聲測試。通過低頻噪聲測試，可以幫助芯片制造廠檢測和排除工藝制造缺陷，確保芯片質量符合預期，提高芯片穩定性。

• 晶圓級噪聲測試精度和高測試帶寬，最低測試噪聲的電流精度低至10-27A2/Hz。

• 典型噪聲測試速度提高至一個偏置條件僅需20s、最高測試電壓提高到200V。

• 通過并行測試架構解決方案以及協同FS-Pro半導體參數測試系統等方式大幅度提高測試效率和吞吐量。

• 用于28/14/10/7/5/3nm等各工藝節點的先進工藝研發和高端集成電路設計。

• 內置功能強大的NoiseProPlus軟件，支持1/f噪聲、RTN噪聲測試和數據分析。

產品亮點：

行業黃金標準：半導體行業低頻噪聲測試“黃金標準”系統

廣泛采用：已被眾多行業領先半導體公司所采用的標準測試系統

并行測試：經頭部客戶驗證的高精度、高測試吞吐率并行測試能力

寬量程：晶圓級高精度和測試帶寬寬電壓、寬電流、寬阻抗測量范圍

系統架構：系統體系架構經行業認可并不斷完善兼具高精度和可靠性

覆蓋廣泛：同時覆蓋從10Ω到10MΩ的高阻抗器件和低阻抗器件測試能力

技術參數：

寬量程： 最大器件端電壓和電流 : 200V, 200mA

高精度： 最高 DC 電流精度 : 10pA、 系統噪聲電流精度 : <10-27A2 /Hz

測試速度：典型 1/f 噪聲測試速度可達 10 秒 /bias

抗阻范圍：阻抗匹配范圍 : 10?-10 M? Gate/Base

電阻多達 16 個選擇

Drain/Collector 電阻多達 15 個選擇

系統參數： 電壓放大器：0.03-10MHz, 0.65nV/Hz(@5kHz)

電流放大器：0.03-1MHz, 0.7pA/ Hz(@5kHz)

寬帶電流放大器：0.03-10MHz, 5pA/ √Hz (@5KHz)

高精度電流放大器：0.03-20KHz, 60fA/ √Hz (@5KHz)

可編程偏置濾波器 、ESD 保護

內置 16 位 DSA

支持多臺并行測試

產品應用：

先進工藝質量/工藝評估和品質監控

低頻噪聲特性測試和噪聲數據分析

半導體器件SPICE模型庫開發

高端集成電路設計和驗證

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Keysight E4980ALCR表可提供的度和速度，并且具有多種功能，可應用于各種元件測量。無論是低阻抗范圍還是高阻抗范圍，E4980A均能提供極快的測量速度和測量性能，是元件和材料的常規研發測試及制造過程測試的理想工具。LAN、USB和GPIB PC連通性能夠提高設計和測試的生產率。

Keysight E4980A LCR表主要特性與技術指標

頻率●在20Hz至2MHz范圍內提供4位分辨率顯示

基本精度●對高低阻抗的重復性測量基本精度為0.05%

直流偏置●內置40V直流偏置

(選件001)●Rdc測量(選件001)

更多特性

●20Vrms測試信號(選件001)

●高速測量：5.6ms

●201點列表掃描

●多功能電腦連接(LAN、USB和GPIB)\

規格參數

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概述

SR850 是一款基于創新 DSP（數字信號處理）架構的數字鎖定放大器。相比，SR850 擁有許多顯著的性能優勢——更高的動態儲備、更低的漂移、更低的失真和顯著更高的相位分辨率。

保修一年零件和人工材料和工藝缺陷

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概述

SR570 是一款低噪聲電流前置放大器，電流增益高達 1 pA/V。高增益和帶寬、低噪聲以及許多方便的特性使 SR570 成為各種光子、低溫和其他測量的理想選擇。

 《半導體測試制程介紹》

 　　測試制程乃是于IC構裝后測試構裝完成的產品之電性功能以保證出廠IC 功能上的完整性，并對已測試的產品依其電性功能作分類（即分Bin），作為 IC不同等級產品的評價依據；Z后并對產品作外觀檢驗（Inspect）作業。

 　　電性功能測試乃針對產品之各種電性參數進行測試以確定產品能正常運作，用于測試之機臺將根據產品不同之測試項目而加載不同之測試程序；而 外觀檢驗之項目繁多，且視不同之構裝型態而有所不同，包含了引腳之各項性質、印字（mark）之清晰度及膠體（mold）是否損傷等項目。而隨表面黏著技術的發展，為確保構裝成品與基版間的準確定位及完整密合，構裝成品接腳之諸項性質之檢驗由是重要。以下將對測試流程做一介紹

上圖為半導體產品測試之流程圖，其流程包括下面幾道作業：

 1.上線備料  

　　上線備料的用意是將預備要上線測試的待測品，從上游廠商送來的 包箱內拆封，并一顆顆的放在一個標準容器（幾十顆放一盤，每一盤可以放的數量及其容器規格，依待測品的外形而有不同）內，以利在上測 試機臺（Tester）時，待測品在分類機（Handler）內可以將待測品定位，而使其內的自動化機械機構可以自動的上下料。

 2.測試機臺測試（FT1、FT2、FT3）  

　　待測品在入庫后，經過入庫檢驗及上線備料后，再來就是上測試機 臺去測試；如前述，測試機臺依測試產品的電性功能種類可以分為邏輯 IC測試機、內存IC測試機及混合式IC（即同時包含邏輯線路及模擬線 路）測試機三種，測試機的主要功能在于發出待測品所需的電性訊號并接受待測品因此訊號后所響應的電性訊號并作出產品電性測試結果的判 斷，當然這些在測試機臺內的控制細節，均是由針對此一待測品所寫之測試程序（Test Program）來控制。

  　即使是同一類的測試機，因每種待測 品其產品的電性特性及測試機臺測試能力限制而有所不同。一般來說，待測品在一 家測試廠中，會有許多適合此種產品電性特性的測試機臺可供其選擇；除了測試機 臺外，待測品要完成電性測試還需要一些測試配件：

 1）分類機（Handler）

　　承載待測品進行測試的自動化機械結構，其內有機械機構將 待測品一顆顆從標準容器內自動的送到測試機臺的測試頭（Test Head）上接受測試，測試的結果會從測試機臺內傳到分類機內， 分類機會依其每顆待測品的電性測試結果來作分類（此即產品分 Bin）的過程；此外分類機內有升溫裝置，以提供待測品在測試 時所需測試溫度的測試環境，而分類機的降溫則一般是靠氮氣，以達到快速降溫的目的。不同的Handler、測試機臺及待測品的搭配下，其測試效果 會有所同，因此對測試產品而言，對可適用的Handler與Tester就會有喜好的選擇現象存在。測試機臺一般會有很多個測試頭（Test Head），個數視測試機臺的機型規格而定，而每個測試頭同時可以上一部分類機或針測機， 因此一部測試機臺可以同時的與多臺的分類機及針測機相連，而依連接的方式又可分為平行 處理，及乒乓處理，前者指的是在同一測試機臺上多臺分類機以相同的測試程試測試同一批 待測品，而后者是在同一測試機臺上多臺分類機以不同的測試程序同時進行不同批待測品的 測試。

 2）測試程序（Test Program）

　　每批待測產品都有在每個不同的測試階段（FT1、FT2、FT3） ，如果要上測試機臺測試，都需要不同的測試程序，不同品牌的測試機臺，其測試程序的語法并不相同，因此即使此測試機臺有 能力測試某待測品，但卻缺少測試程序，還是沒有用；一般而言，因為測試程序的內容與待測品的電性特性+息息相關，所以大多 是客戶提供的。

 3）測試機臺接口

　　這是一個要將待測品 接腳上的訊號連接上測試 機臺的測試頭上的訊號傳送接點的一個轉換接口， 此轉換接口，依待測品的 電性特性及外形接腳數的不同而有很多種類，如：Hi-Fix（內存類產品）、Fixture Board（邏輯類產品）、Load Board（邏輯類產 品）、Adopt Board + DUT Board（邏輯類產品）、Socket（接腳器 ，依待測品其接腳的分布位置及腳數而有所不同）。

 　　每批待測品在測試機臺的測試次數并不相同，這完全要看客戶的要求，一般而言邏輯性的產品，只需上測試機臺一次（即FT2）而不用FT1 、FT3，如果為內存IC則會經過二至三次的測試，而每次的測試環境溫度要求會有些不同，測試環境的溫度選擇，有三種選擇，即高溫、常溫 及低溫，溫度的度數有時客戶也會要求，升溫比降溫耗時許多，而即于那一道要用什么溫度，這也視不同客戶的不同待測品而有所不同。

 　　每次測試完，都會有測試結果報告，若測試結果不佳，則可能會產生Hold住本批待測品的現象產生。

3.預燒爐（Burn-In Oven）（測試內存IC才有此程序）  

　　在測試內存性產品時，在FT1之后，待測品都會上預燒爐里去 Burn In，其目的在于提供待測品一個高溫、高電壓、高電流的環境，使生命周期較短的待測品在Burn In的過程中提早的顯現出來，在Burn In后 必需在96個小時內待測品Burn In物理特性未消退之前完成后續測試機臺 測試的流程，否則就要將待測品種回預燒爐去重新Burn In。在此會用到 的配件包括Burn-In Board及Burn In Socket..等。

4.電性抽測  

　　在每一道機臺測試后，都會有一個電性抽測的動作（俗稱QC或Q貨） ，此作業的目的在將此完成測試機臺測試的待測品抽出一定數量，重回測試機臺在測試程序、測試機臺、測試溫度都不變下，看其測試結果是 否與之前上測試機臺的測試結果相一致，若不一致，則有可能是測試機臺故障、測試程序有問題、測試配件損壞、測試過程有瑕疵..等原因， 原因小者，則需回測試機臺重測，原因大者，將能將此批待測品Hold住，等待工程師、生管人員與客戶協調后再作決策。

5.卷標掃描（Mark Scan）  

　　利用機械視覺設備對待測品的產品上的產品Mark作檢測，內容包括 Mark的位置歪斜度及內容的清晰度..等。

6.人工檢腳或機器檢腳  

　　檢驗待測品IC的接腳的對稱性、平整性及共面度等，這部份作業有 時會利用雷射掃描的方式來進行，也會有些利用人力來作檢驗。

7.檢腳抽檢與彎腳修整  

　　對于彎腳品，會進行彎腳品的修復作業，然后再利用人工進行檢腳 的抽驗。

8.加溫烘烤（Baking）  

　　在所有測試及檢驗流程之后，產品必需進烘烤爐中進行烘烤，將待測品上水氣烘干，使產品在送至客戶手中之前不會因水氣的腐蝕而影響待測品的質量。

9.包裝（Packing）

　　將待測品依其客戶的指示，將原來在標準容器內的待測品的分類包 裝成客戶所指定的包裝容器內，并作必要的包裝容器上之商標粘貼等。

10.出貨的運送作業

　　由于Z終測試是半導體IC制程的Z后一站，所以許多客戶就把測試 廠當作他們的成品倉庫，以避免自身工廠的成品存放的管理，另一方面也減少不必要的成品搬運成本，因此針對客戶的要求，測試廠也提供所 謂的「Door to Door」的服務，即幫助客戶將測試完成品送至客戶指定的地方（包括客戶的產品買家），有些客戶指的地點在海外者，便需要考慮船期的安排，如果在國內者，則要考慮貨運的安排事宜。  

   半導體組件制造過程可概分為晶圓處理制程（Wafer Fabrication；簡稱 Wafer Fab）、晶圓針測制程（Wafer Probe）、封裝（Packaging）、測試制程（Initial Test and Final Test）等幾個步驟。一般稱晶圓處理制程與晶圓針測制程為前段（Front End）制程，而構裝、測試制程為后段（Back End）制程

Agilent E4443A PSA 高性能頻譜分析儀可測量和監測頻率高達 6.7 GHz 的復雜射頻信號。

產品參數：

頻率：3 Hz 至 6.7 GHz

最大分析帶寬：80 MHz

帶寬選項：10 個標準、40、80 MHz

DANL @1 GHz：-169 dBm

相位噪聲@1 GHz（10 kHz 偏移）：-118 dBc/Hz

相位噪聲@1 GHz（1 MHz 偏移）：-147 dBc/Hz

整體幅度精度：± 0.19 dB

TOI @1 GHz（三階截距）：+19 dBm

最大動態范圍三階@1 GHz：116 dB

標準衰減器范圍：70 dB

標準衰減器步長：2 dB

Agilent E4443A 提供高達 6.7 GHz 的高性能頻譜分析，具有強大的一鍵式測量、通用功能集以及靈活性、速度、精度和動態范圍的領先組合。

E4443A頻譜分析儀租賃選西安安泰測試Agitek，現貨，價格優惠，型號齊全，

儀器租賃的好處：

1.節約成本：減少開支，提高資金的利用率；

2.無需保養：根據合同約定，租賃方負責維修維護，不需承擔維修保養費用，避免儀器重大問題帶來的維修費用；

3.隨租隨用：應對緊急的生產及客戶審核需要，應對緊急的訂單，免去進口儀器交貨周期長的問題；

4.方便靈活：可以根據自身經營情況，選擇短租、長租、變租為購；

5.省時省事：免除儀器選購的煩惱，貨物周期長以及可能選錯儀器的風險。

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ATA-1372A寬帶放大器簡介

ATA-1372A是一款可放大交直流信號的單通道寬帶放大器。其最大輸出電壓70Vp-p(±35Vp)，最大輸出電流2Ap（>50Hz）。電壓增益數控可調，一鍵保存設置，提供了方便簡潔的操作選擇，可與主流的信號發生器配套使用，實現信號的放大。

輸入Input

輸入為BNC接口，輸入電阻50Ω、10kΩ兩檔可選，匹配高低內阻信號源。

輸出Output

輸出為BNC接口，最大輸出電壓70Vp-p(±35Vp)，輸出電流2Ap。

液晶面板顯示

ATA-1372A采用液晶面板顯示，設備狀態及參數動態顯示，操作界面一目了然，簡潔易懂。

電壓增益

電壓增益數控0~40倍可調，具體分為粗調（1step）和細調（0.1step）兩種。結合液晶面板增益的顯示，能夠快速調整至需要的電壓值。

ATA-1372A寬帶放大器監測口M.out

輸出電壓監測端口（100mV/V）：監測口為BNC接口，可以直接連接到示波器進行輸出電壓的實時監測。

輸出電流監測端口（1V/A）：監測口為BNC接口，可以直接連接到示波器進行輸出電流的實時監測。

ATA-1372A寬帶放大器主要指標：

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ATA-2021B高壓放大器簡介

ATA-2021B是一款可放大交直流信號的單通道高壓放大器。最大輸出200Vp-p電壓，輸出電壓范圍可根據輸出軌調節；直流偏置電壓三檔可調，連續變化最大可輸出±160V，可以實現輸出非對稱信號需求，驅動高壓型負載。輸入輸出電阻兩檔切換，電壓增益數控可調，設置參數自動保存，具有程控功能，操作簡潔方便，可與信號發生器配套使用，實現信號的放大。寬范圍供電電源，可兼容不同地區的電源標準要求。

電壓增益

0~60倍數控可調，具體分為粗調（1step）和細調（0.1step）兩種。結合液晶面板增益的顯示，能夠快速、準確調整至需要的電壓值。

液晶顯示

ATA-2021B采用液晶顯示屏，設備狀態及參數動態顯示，不同色彩的提示使人機交互更高效，操作界面一目了然，簡潔易懂。

監測口 Monitor

20mV/AMonitor：監測口電壓為輸出端口電壓的1/50，監測口為BNC接頭，可直連示波器進行輸出電壓的實時監測。

2V/AMonitor：監測口電壓為輸出端口電流的2倍，監測口為BNC接頭，可直連示波器進行輸出電流的實時監測。

輸出 Output

輸出為香蕉插座，最大輸出電壓200Vp-p，最大輸出電流500mAp。

輸出電壓軌三檔可調

技術參數：

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產品介紹

精巧高性能的賽默飛ARL EQUINOX 100擁有獨特的超大型實時探測器，可以對全譜進行實時同步采集。得益于特定的實時檢測模式，測量在幾秒鐘內即可完成。 該儀器在不影響速度或性能的前提下簡化了操作流程。這使得其擁有更快的檢測速度，也特別適用于原位研究和與結晶/相變相關的實驗。

產品優勢

? 可靠且耐用，無活動部件

? 高強度微聚焦光源

? 實時同步數據采集

? 多種樣品臺與分析模式可選

技術規格

EQ100

高度：545 mm

寬度：680 mm

深度：585 mm

重量：75 kg（根據附件選擇具體情況而定）

最大功率：50W

氣體供給：P10混合氣

冷卻裝置：無需外接冷卻裝置

應用領域

物相分析

精密測定點陣參數

宏觀應力的測定

晶粒尺寸大小的測定

取向分析

結晶度的測定

簡介

ATG-2021H是一款理想的可輸出正弦波、方波、三角波、脈沖波的單通道功率信號源。客戶可根據使用情況選擇信號內置、或外置輸入。最大輸出200Vp-p (±100V)電壓，可以驅動高壓型負載。電壓增益數控可調，一鍵保存常用設置，為您提供了方便簡潔的操作選擇。

輸入Input

外置信號輸入端為BNC接口。當信號內置輸入，此時為功率信號源模式，設置波形，頻率，電壓等參數即可；當信號外置接入，此時為放大器模式，輸入電阻為5kΩ，輸出電阻可切換，調節電壓增益即可實現信號放大。

輸出 Output

輸出接口為香蕉插座，輸出電壓0~200Vp-p(±100V)，最大輸出電流（峰值）500mA。

液晶面板顯示

操作面板液晶顯示，設備狀態及參數動態顯示，交互界面一目了然，簡潔易懂。

電壓增益

外置輸入信號時為放大器工作模式，此時電壓增益是數控0~60倍（1step）可調。結合液晶面板增益的顯示，能夠快速調整至需要的電壓值。

監測口Monitor

1/100 Monitor：此端口電壓為輸出端口的1/100，監測口為BNC接頭，可以直接連接到示波器進行輸出電壓的實時監測。

ATG-2021H功率信號源產品規格參數：

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       高溫直流測試系統主要用于材料高溫條件的直流絕緣電阻的測量，與軟件配合可實現常溫、變溫、恒溫等測試，升溫速度可調。采用紅外加溫，可實現真空、氣氛環境測試。接下來了解一下設備參數。

1、溫度范圍：室溫~1000℃；

2、溫度穩定精度：全溫區穩定精度<士1℃；

3、升溫方式：與軟件配合實現常溫、變溫、恒溫等；

4、采用紅外加溫方式，可以真空、氣氛環境測試；

5、多種控溫方式；升溫速度：可調；

6、通信接口：RS232接口與電腦連接；

7、高溫測試夾具：與絕緣電阻儀配合使用；連接線、采用同軸屏蔽層；

8、樣品尺寸：直徑<100mm，厚度<100mm；

9、降溫方式：采用水循環制冷技術，極速降溫；

10、測量導線：鉑金；

11、測試接觸電極：鉑金；

12、測量方式：兩電極；

13、用于材料高溫條件的直流絕緣電阻的測量；

14、穩壓源：功率7KW；

15、可輸出保存BMP、TXT、XLS等數據格式文件；

16、對測量的數據提供數據查詢與分析功能。

普源示波器DS6000 是一款多功能、高性能的數字示波器。它實現了易用性、優異的技術指標及 眾多功能特性的wan美結合，可幫助用戶更快地完成工作任務，例如參數的快速測量、 遠程接口配置、方便地連接打印機等功能。

一、普源示波器DS6000主要特色：

1、 主要指標：1 GHz或600 MHz帶寬 2通道或4通道 ，Z高5 GSa/s實時采樣率，100 GSa/s等效采樣率，180,000 wfms/s（點顯示）的 波形捕獲率 ， Z高140 Mpts存儲深度（標配）；

2、 duchuangUltra Vision技術；

3、 10.1英寸WVGA（800*480）160,000色TFT LCD，超寬屏、色彩逼真，功耗低， 壽命長 ；

4、 自動識別探頭類型 ；

5、 模擬通道波形亮度可調 ；

6、 波形顯示可以自動設置（Auto） ；

7、 豐富的觸發功能，包含多種協議觸發 ；

8、 標配并行解碼，提供多種串行解碼選件 ；

9、 自動測量29種波形參數，帶統計的測量功能 ；

10、實時波形錄制、波形回放和波形分析功能 ；

11、精細的延遲掃描功能；

12、內嵌FFT功能 ；

13、通過/失敗檢測功能 ；

14、多重波形數學運算功能；

15、標準配置接口：USB DEVICE、雙USB HOST、LAN和GPIB（可選） ；

16、支持U盤存儲和PictBridge打印機 ；

17、符合LXI-C類儀器標準，能夠快速、經濟、GX地創建和重新配置測試系統；

18、支持遠程命令控制 ；

19、嵌入式幫助，方便信息獲取 ；

20、支持多國語言，中英文輸入 ；

21、提供一鍵測量，一鍵存儲/打印快捷鍵；

22、提供2小時以上的鋰電池（可選）供電，方便現場調試和使用 ；

23、內置1 GBytes的閃存；

二、普源示波器DS6000主要型號及指標：

數字示波器是任何設計、制造和維修電子設備的工程師的必備儀器。為了面對當今的各種設計和調試的挑戰,電子工程師們在日常工作中需要利用操作方便、測量jing準的數字示波器觀測各種模擬、數字信號，以便發現問題和解決問題。如何選用性能優異、價格合理的儀器是每位主管和工程師都要面對的首要課題。

安泰測試作為普源一級dai理商，為客戶提供普源示波器、頻譜分析儀、信號發生器、電源等電測儀器的選型、銷售、維修和培訓等一站式服務。如您在選型或者使用過程中有任何問題，歡迎咨詢安泰測試，安泰測試提供免費樣機演示服務。